束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司
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詳細(xì)摘要： 臺式microESR通用型ESR/工業(yè)分析/教育電子自旋共振（ESR）波譜儀能夠檢測樣品中自由基的濃度和成分
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2025-02-03 在線留言
詳細(xì)摘要： 臺式ESR5000波譜儀緊湊型高性能儀器，其靈敏度和可靠性足可勝任EPR波譜領(lǐng)域的苛刻應(yīng)用*而廣泛EPR（電子順磁共振）波譜技術(shù)是能明確地檢測和定量含有未配對電...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2025-02-01 在線留言
詳細(xì)摘要： 晶圓x射線晶體定向儀分揀系統(tǒng)用于全自動分揀、晶體取向、optical notch and flat determination測定等。Si | SiC | Al...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-04-02 在線留言
詳細(xì)摘要： 德國Freiberg Instruments 電阻率測試儀（RESmap ）在對低電阻率晶錠和晶圓進(jìn)行非接觸式測量方式上擁有非常重要的重復(fù)性 Si | Ge |...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-04-02 在線留言
詳細(xì)摘要： 測量搖擺曲線意味著在Theta-scan模式下進(jìn)行測量，這需要一個測角儀。一個雙晶體被帶入主光束路徑，以減少光譜寬度和發(fā)散度。然而，其副作用是強(qiáng)烈的強(qiáng)度降低。
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-04-02 在線留言
詳細(xì)摘要： 晶錠XRD有著的XRD系統(tǒng)，用于單晶晶錠的自動定向、傾斜和對準(zhǔn)研磨。SiC | Si| AlN | GaAs | Quartz | LiNbO3 | BBO和其...
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詳細(xì)摘要： 在晶圓片的注入和光刻過程中，需要平面或凹槽作為定位標(biāo)記。切割過程中，晶片必須正確地對準(zhǔn)晶圓片上易于切割的晶格面。因此，檢查平面或缺口的位置至關(guān)重要。
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詳細(xì)摘要： Mapping面掃臺允許使用受控的網(wǎng)格模式來探索整個樣品表面。Omega/Theta XRD可以很容易地在轉(zhuǎn)盤頂部容納額外的XY定位平臺。樣品表面可以根據(jù)用戶定...
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詳細(xì)摘要： 靈活的OEM少子壽命測試儀器，用于各種不同樣品的少子壽命測量，從單晶硅磚到多晶硅磚，從生長的硅片到不同層或金屬化的硅片的過程控制。標(biāo)準(zhǔn)的軟件接口，便于連接到許多...
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詳細(xì)摘要： 低成本桌面單點(diǎn)測量硅片或晶磚，用于在不同制備階段表征各種不同的硅樣品，無需內(nèi)置自動化?？蛇x手動操作的z軸厚度高達(dá)156毫米的硅磚樣品，高達(dá)156毫米硅磚，結(jié)果可...
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詳細(xì)摘要： MDPmap被設(shè)計(jì)成一個緊湊的臺式非接觸電學(xué)表征工具，用于離線生產(chǎn)控制或研發(fā)，在穩(wěn)態(tài)或短脈沖激勵（μ-PCD）下，在一個寬的注入范圍內(nèi)測量參數(shù)，如載流子壽命、光...
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詳細(xì)摘要： PIDStudio是一個很的軟件，它非常容易操作和直觀，因?yàn)樗鶕?jù)我們用戶的反饋持續(xù)更新和改進(jìn)。
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詳細(xì)摘要： 用于單晶硅錠、硅磚和硅晶圓片的生產(chǎn)和質(zhì)量監(jiān)控。用于HJT、HIT、TOPcon、雙面PERC、PERC+太陽能電池、鈣鈦礦等中的硅材料。
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詳細(xì)摘要： 便攜式現(xiàn)場PID（電位誘發(fā)衰減）測試儀，適用于不同類型和尺寸的晶體硅組件，無需拆裝，測試時間在8小時之內(nèi)（測量時間將少于8小時）。PIDcheck是與德國Fra...
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詳細(xì)摘要： 用于單面及雙面電池，HIT、Topcon、PERC/PERC+太陽能電池、晶體硅太陽能電池、微型模塊等的質(zhì)量控制Freiberg公司與德國FraunhoferC...
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詳細(xì)摘要： SDT 型旋轉(zhuǎn)滴界面張力儀憑借的測量精度、寬廣的測量范圍、較低的樣本量需求和簡易的樣品預(yù)處理方式，成為乳液和表面活性劑研發(fā)和質(zhì)控工作的理想解決工具。這款張力儀能...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-04-02 在線留言
詳細(xì)摘要： 表面活性劑作為乳化劑的作用是基于其能降低互不相溶兩相間的界面張力的速度。其應(yīng)用范圍能涵蓋非常快到非常慢的加工過程，這使得一次測量就能測量從動態(tài)到平衡態(tài)的界面張力...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-04-02 在線留言
詳細(xì)摘要： ，X射線衍射儀是材料學(xué)相關(guān)領(lǐng)域基礎(chǔ)且的分析手段，具備無損、樣品制備簡單等優(yōu)勢。X射線衍射儀一般主要由X射線光源部分、測角儀、樣品臺、光路系統(tǒng)、探測器五大部分組成...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-04-02 在線留言
詳細(xì)摘要： 氣泡壓力張力儀 – BP100能高精度測量動態(tài)表面張力。通過對表面活性劑遷移特性的可靠分析，來優(yōu)化噴涂、鍍膜、印刷及去污等高速進(jìn)程。
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-04-02 在線留言
詳細(xì)摘要： 力學(xué)法表面張力儀–K20是一臺精確測量表面張力和界面張力的半自動儀器，性能穩(wěn)定可靠。環(huán)法和板法作為主要張力測試方法，K20為表面活性劑溶液及界面加工的日常質(zhì)量保...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-04-02 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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