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X熒光光譜儀 詳細(xì)摘要： X熒光光譜儀具有多種測(cè)試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式的自由添加，內(nèi)置強(qiáng)度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：蘇州市 更新時(shí)間：2020-02-29 參考價(jià)：¥ 450 在線留言
| 蘇州TianRay儀器股份有限公司 |
詳細(xì)摘要： X熒光光譜儀具有多種測(cè)試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式的自由添加，內(nèi)置強(qiáng)度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：蘇州市 更新時(shí)間：2020-02-29 參考價(jià)：¥ 450 在線留言