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北京北廣精儀儀器設備有限公司
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產(chǎn)品型號BEST-300C
品 牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地
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更新時間：2023-05-29 08:21:58瀏覽次數(shù)：331次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線四探針導電材料電阻率測試儀常規(guī)四探針測量方法解決不了,幾何邊界條件和探針間距的自動修正.應用于各類形狀的簿膜及片狀半導體材料。
四探針導電材料電阻率測試儀在測試過程中，在滿足基本條件下可以不考慮探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置等因素。四探針導電材料電阻率測試儀自動修正，降低了其對測試結(jié)果的影響，從而提高了測量結(jié)果的準確度。通過采用四探針雙位組合測量技術(shù)，將范德堡測量方法應用到直線四探針上。利用電流探針和電壓探針的組合變換，進行兩次電測量，其最后計算結(jié)果能自動消除由樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素所引起的，對測量結(jié)果的不利影響。適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析半導體材料質(zhì)量的工具；液晶顯示，自動測量和系數(shù)補償，并帶有溫度補償功能，自動轉(zhuǎn)換量程；采用AD芯片控制，恒流輸出，選配：PC軟件，保存和打印數(shù)據(jù)，生成報表
用于：覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試等相關(guān)產(chǎn)品
電阻測量范圍：
1、電阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、
電 阻：1×10-5～2×105Ω
電導率：5×10-6～1×108ms/cm
分辨率： 最小1μΩ
測量誤差±5%
2、測量電壓量程： 2mV 20mV 200mV 2V
測量精度±（0.1%讀數(shù)）
分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV
3、⑴電流輸出：直流電流 0～1000mA 連續(xù)可調(diào)，由交流電源供電。
⑵量程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，1000mA,
⑶誤差：±0.2%讀數(shù)±2字
4. 主機外形尺寸：330mm*350mm*110mm
5、顯示方式：液晶顯示6、電源：220±10% 50HZ/60HZ
7、標配：測試平臺一套、主機一套、電源線數(shù)據(jù)線一套。
四端測試法是目前較*之測試方法，主要針對高精度要求之產(chǎn)品測試；本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。
本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料之電導率。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電導率單位自動選擇，BEST-300C 材料電導率測試儀自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復設置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成圖表和報表。
本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、方阻、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.
提供中文或英文兩種語言操作界面選擇，滿足國內(nèi)及國外客戶需求硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及國家標準設計制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.
環(huán)保在線 設計制作，未經(jīng)允許翻錄必究 .? ? ?
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