四探針導(dǎo)電材料電阻率測試儀在測試過程中，在滿足基本條件下可以不考慮探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置等因素。四探針導(dǎo)電材料電阻率測試儀自動修正，降低了其對測試結(jié)果的影響，從而提高了測量結(jié)果的準(zhǔn)確度。通過采用四探針雙位組合測量技術(shù)，將范德堡測量方法應(yīng)用到直線四探針上。利用電流探針和電壓探針的組合變換，進行兩次電測量，其最后計算結(jié)果能自動消除由樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素所引起的，對測量結(jié)果的不利影響。適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具；液晶顯示，自動測量和系數(shù)補償，并帶有溫度補償功能，自動轉(zhuǎn)換量程；采用AD芯片控制，恒流輸出，選配：PC軟件，保存和打印數(shù)據(jù)，生成報表

用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試等相關(guān)產(chǎn)品

電阻測量范圍：
1、電阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、

電阻：1×10-5～2×105Ω

電導(dǎo)率：5×10-6～1×108ms/cm

分辨率：最小1μΩ
測量誤差±5%
2、測量電壓量程： 2mV 20mV 200mV 2V
測量精度±（0.1%讀數(shù)）

分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV
3、⑴電流輸出：直流電流 0～1000mA 連續(xù)可調(diào)，由交流電源供電。
⑵量程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，1000mA,
⑶誤差：±0.2%讀數(shù)±2字

4. 主機外形尺寸：330mm*350mm*110mm

5、顯示方式：液晶顯示6、電源：220±10% 50HZ/60HZ

7、標(biāo)配：測試平臺一套、主機一套、電源線數(shù)據(jù)線一套。

四端測試法是目前較*之測試方法，主要針對高精度要求之產(chǎn)品測試；本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。

本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料之電導(dǎo)率。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電導(dǎo)率單位自動選擇，BEST-300C 材料電導(dǎo)率測試儀自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成圖表和報表。

本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、方阻、電導(dǎo)率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.

提供中文或英文兩種語言操作界面選擇，滿足國內(nèi)及國外客戶需求硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

關(guān)鍵詞：芯片電導(dǎo)率測試儀

商鋪：http://www.niunang.cn/st624464/

主營產(chǎn)品：料試驗機（拉力機）、電壓擊穿試驗儀、體積表面積電阻率測試儀、介電常數(shù)與介質(zhì)損耗測試儀、低溫脆性沖擊試驗儀、耐電弧性能試驗儀、高壓漏電起痕試驗儀、環(huán)境試驗箱、維卡熱變形試驗儀、轉(zhuǎn)子硫化儀、熔體流動速率儀、水平垂直燃燒試驗儀、門尼粘度試驗儀、阿克隆磨耗試驗機、氣動沖片機、手動沖片機、滑動摩擦磨損試驗機、啞鈴制樣機、簡支梁沖擊試驗機、懸臂梁沖擊試驗機、氧指數(shù)測定儀、水分測定儀、海綿密度測定儀、橡膠回彈儀等。

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