角分辨散射儀

昊量光電新推出用于準確測量材料散射特征的角分辨散射儀，為高質(zhì)量光學(xué)產(chǎn)品的生產(chǎn)提供有力保障。這種角分辨散射測量儀能夠能夠測量二維或三維雙向散射分布函數(shù)(BSDF)，包括雙向反射分布函數(shù)BRDF, 雙向透射分布函數(shù)BTDF,透射，反射，散射等。

1. 手持式散射儀

   
   

   MicroScan (μScan™)散射計是一種手持式散射計，提供了一個快速，非破壞性的方式檢測表面粗糙度和光學(xué)特性?？捎糜阽R面、各種反射鏡及精密加工表面檢測。它可以在實驗室、現(xiàn)場和制造環(huán)境中使用。一個常見的用途是就地檢測難以移動的大型表面(如望遠鏡反射鏡)。另一個是在制造車間對大型板材產(chǎn)品(軋制金屬、鍍膜玻璃等)進行表面光潔度檢驗。

2. 臺式高速角分辨散射儀

   
   

   可編程掃描允許對反射或透射半球進行采樣，距離鏡面光束小于5度，小于0.6度(帶有光束輪廓器選項)。標準型號包含一個635 nm的光源，其它波長可選，如：473nm,532nm,635nm和980 nm。動態(tài)范圍超過10個數(shù)量級，噪聲下限約為10-6/sr。這款臺式角分辨散射儀能夠測量大多數(shù)光學(xué)元件，但不能測量拋光硅片。蕞大入射角75度，全半球掃描根據(jù)掃描分辨率不同在5-30秒內(nèi)完成。

3. 半球散射測量儀

   
   

   TSW TASC™半球散射計使用激光或?qū)拵г磫紊鞯墓?，作為非接觸式探頭來測量來自各種材料的散射光，包括液體和粉末。偏振變換選項允許測量和分析斯托克斯矢量和穆勒矩陣。反向散射組件選項提供沿入射光束直接散射的能量的敏感測量。樣品水平安裝在可在X和Y方向移動和/或旋轉(zhuǎn)的平臺上。入射角可以設(shè)置為距離表面法線85度以內(nèi)的任何角度。TASC可編程掃描上方半球(用于反射)或下方半球(用于傳輸)，每步分辨率可降至0.001。

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