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詳細(xì)摘要： 日立臺式掃描電鏡畫質(zhì)更加清晰，操作更加便捷，觀看更加直觀。TM4000系列搭載*技術(shù)，可滿足“更好"的觀察需求。

詳細(xì)摘要： 超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡Regulus系列繼承了現(xiàn)有機型的觀察和分析性能，配備SU8200系列的低噪音冷場發(fā)射電子槍*1，可以獲得高穩(wěn)定的束流。

詳細(xì)摘要： 掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000通過高靈敏度二次電子探測器，背散射探測器，低真空探測器（UVD*2），實現(xiàn)低加速電壓/低真空下高質(zhì)量圖像觀察

詳細(xì)摘要： 奧林巴斯STM7測量顯微鏡具有優(yōu)良的多用途性，能夠以亞微米精度實現(xiàn)對零部件和電氣組件的高性能三軸測量。

詳細(xì)摘要： 奧林巴斯SZX16通用顯微鏡根據(jù)檢測應(yīng)用的需求設(shè)計的，0.7x - 11.5x，變倍比可達16.4倍，分辨率可達900 LP/mm。能夠滿足廣泛的研究需求。

詳細(xì)摘要： 奧林巴斯BXFM定制系統(tǒng)顯微鏡是可進行明視野、暗視野、微分干涉、簡易偏光、熒光觀察的小型系統(tǒng)顯微鏡。

詳細(xì)摘要： 奧林巴斯BX53P 偏光顯微鏡無限遠校正的優(yōu)勢UIS2光學(xué)系統(tǒng)防止了光學(xué)顯微鏡性能的降低，消除了對顯微鏡光學(xué)放大倍數(shù)的影響

詳細(xì)摘要： 奧林巴斯半導(dǎo)體/FPD檢測顯微鏡MX63/MX63L能夠提供zui大 300mm 晶圓、平板顯示器、印刷電路板、以及其他大型樣本的高品質(zhì)觀察。

詳細(xì)摘要： 奧林巴斯BX53M正立金相顯微鏡除常規(guī)顯微鏡檢查的傳統(tǒng)襯度對比法，還可以解決以往很多使用傳統(tǒng)襯度對比法檢查時遇到的缺陷檢測方面的困難。

詳細(xì)摘要： 奧林巴斯光學(xué)數(shù)碼顯微鏡DSX510為了使顯微鏡的熟練操作人員能夠直觀完成操作，按照工作流程配置了必要按鈕等的模式。運用電動控制提高了操作速度。

詳細(xì)摘要： 奧林巴斯激光共聚焦顯微鏡OLS5000可觀察納米范圍的臺階，并可測量亞微米級別的高度差。還可以測量從線到面的表面粗糙度。

詳細(xì)摘要： 離子濺射儀MC1000采用磁控型電極，大限度地減輕對樣品的損壞。采用LCD觸摸屏，可以更加簡便地設(shè)定加工條件

詳細(xì)摘要： AL120晶圓搬送機可對應(yīng)200mm以下晶圓尺寸的硅、化合物晶圓，可以安全高效搬送薄片晶圓，非常適合于前道到后道工程的晶圓檢查。