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上海米遠(yuǎn)電氣有限公司

  • HPS5103三通道直流電阻測(cè)試儀

    HPS5103三通道直流電阻測(cè)試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝,米遠(yuǎn)科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測(cè)量技術(shù),很好地消除了熱電對(duì)被測(cè)元件接觸的影響而引起的潛在...
    型號(hào): 所在地: 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/1/17 11:47:16 對(duì)比
  • HPS5106六路電阻測(cè)試儀

    HPS5106六路電阻測(cè)試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝,米遠(yuǎn)科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測(cè)量技術(shù),很好地消除了熱電對(duì)被測(cè)元件接觸的影響而引起的潛在誤差.
    型號(hào): 所在地: 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/1/17 11:45:53 對(duì)比
  • HPS2510-8精密多路電阻測(cè)試儀

    HPS2510-8精密多路電阻測(cè)試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝,米遠(yuǎn)科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測(cè)量技術(shù),很好地消除了熱電對(duì)被測(cè)元件接觸的影響而引起的潛...
    型號(hào): 所在地: 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/1/17 11:44:29 對(duì)比
  • HPS5110精密多路電阻測(cè)試儀

    HPS5110精密多路電阻測(cè)試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝,米遠(yuǎn)科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測(cè)量技術(shù),很好地消除了熱電對(duì)被測(cè)元件接觸的影響而引起的潛在誤...
    型號(hào): 所在地: 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/1/17 11:42:56 對(duì)比
  • HPS5112精密多路電阻測(cè)試儀

    HPS5112精密多路電阻測(cè)試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝,米遠(yuǎn)科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測(cè)量技術(shù),很好地消除了熱電對(duì)被測(cè)元件接觸的影響而引起的潛在誤...
    型號(hào): 所在地: 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/1/17 11:41:40 對(duì)比
  • HPS2510-16精密多路電阻測(cè)試儀

    HPS2510-16精密多路電阻測(cè)試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝,米遠(yuǎn)科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測(cè)量技術(shù),很好地消除了熱電對(duì)被測(cè)元件接觸的影響而引起的...
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  • HPS5120精密多路電阻測(cè)試儀

    HPS5120精密多路電阻測(cè)試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝,米遠(yuǎn)科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測(cè)量技術(shù),很好地消除了熱電對(duì)被測(cè)元件接觸的影響而引起的潛在誤...
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  • HPS2510-24精密多路電阻測(cè)試儀

    HPS2510-24精密多路電阻測(cè)試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝,米遠(yuǎn)科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測(cè)量技術(shù),很好地消除了熱電對(duì)被測(cè)元件接觸的影響而引起的...
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  • HPS5130精密多路電阻測(cè)試儀

    HPS5130精密多路電阻測(cè)試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝,米遠(yuǎn)科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測(cè)量技術(shù),很好地消除了熱電對(duì)被測(cè)元件接觸的影響而引起的潛在誤...
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  • HPS2510-32精密多路電阻測(cè)試儀

    HPS2510-32精密多路電阻測(cè)試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝,米遠(yuǎn)科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測(cè)量技術(shù),很好地消除了熱電對(duì)被測(cè)元件接觸的影響而引起的...
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  • HPS2510-48精密多路電阻測(cè)試儀

    HPS2510-48精密多路電阻測(cè)試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝,米遠(yuǎn)科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測(cè)量技術(shù),很好地消除了熱電對(duì)被測(cè)元件接觸的影響而引起的...
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  • HPS2510-64精密多路電阻測(cè)試儀

    HPS2510-64精密多路電阻測(cè)試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝,米遠(yuǎn)科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測(cè)量技術(shù),很好地消除了熱電對(duì)被測(cè)元件接觸的影響而引起的...
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  • HPS2510-128精密多路電阻測(cè)試儀

    HPS2510-128精密多路電阻測(cè)試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝,米遠(yuǎn)科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測(cè)量技術(shù),很好地消除了熱電對(duì)被測(cè)元件接觸的影響而引起...
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  • HPS2510-256精密多路電阻測(cè)試儀

    HPS2510-256精密多路電阻測(cè)試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝,米遠(yuǎn)科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測(cè)量技術(shù),很好地消除了熱電對(duì)被測(cè)元件接觸的影響而引起...
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