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西安長禾半導體技術有限公司
西安長禾半導體技術有限公司
產品型號長禾
品 牌其他品牌
廠商性質生產商
所 在 地西安市
聯(lián)系方式：胡女士查看聯(lián)系方式
更新時間：2020-08-26 20:03:22瀏覽次數(shù)：507次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線| 測量范圍 | 半導體器件電參數(shù) | 外形尺寸 | 1800X1800X800mm |
|---|---|---|---|
| 重量 | 358kg |
西安長禾半導體技術有限公司功率器件測試實驗室（簡稱長禾實驗室）位于西安市*經(jīng)濟開發(fā)區(qū)，是一家專業(yè)從事功率半導體器件測試服務的*，是國家CNAS 認可實驗室，屬于國家大功率器件測試服務中心。
檢測項目 | 覆蓋產品 | 檢測能力 | 參考標準 | |||
功率循環(huán)試驗（PC） | IGBT模塊 | ΔTj=100℃ 電壓電流大1800A 12V | IEC 客戶自定義 | |||
高溫反偏試驗（HTRB） | MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR，第三代半導體器件等單管器件 | 溫度150℃； 電壓2000V | 美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等 | |||
高溫門極試驗（HTGB） | MOSFET、SiC MOS等單管器件 | 溫度150℃； 電壓2000V | 美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等 | |||
高溫工作壽命試驗（HTOL） | MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR、IC、第三代半導體器件等單管器件 | 溫度150℃ 電壓2000V | 美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等 | |||
低溫工作壽命試驗（LTOL） | MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR、IC、第三代半導體器件等單管器件 | 溫度-80℃ 電壓2000V | 美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等 | |||
高溫儲存試驗（HTSL） | MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR、IC、IGBT模塊、第三代半導體器件等產品及其他電子產品 | 溫度150℃； | 美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等 | |||
低溫儲存試驗（LTSL） | MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR、IC、IGBT模塊、第三代半導體器件等產品及其他電子產品 | 溫度-80℃ | 美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等 | |||
高溫高濕試驗（THB） | MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR、IC、IGBT模塊、第三代半導體器件等產品及其他電子產品 | 溫度180℃ 濕度范圍：10%~98% | 美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等 | |||
高低溫循環(huán)試驗（TC） | MOSFET、IGBT、IDIODE、BJT、SCR、IC、IGBT模塊、第三代半導體器件等產品及其他電子產品 | 溫度范圍：-80℃~220℃ | 美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等 | |||
間歇壽命試驗（IOL）功率循環(huán)試驗（PC） | MOSFET、DIODE、BJT、IGBT及第三代半導體器件等單管器件 | ΔTj≧100℃ 電壓電流48V，10A | 美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等 | |||
穩(wěn)態(tài)功率試驗（SSOL） | MOSFET、DIODE、BJT、IGBT及第三代半導體器件等單管器件 | ΔTj≧100℃ 電壓電流48V，10A | 美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等 | |||
高加速應力試驗（HAST） | MOSFET、DIODE、BJT、IGBT及第三代半導體器件等產品及其他電子產品 | 溫度130℃/110℃ 濕度85% | 美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等 | |||
*無偏壓的高加速應力試驗（UHAST） | MOSFET、DIODE、BJT、IGBT及第三代半導體器件等產品及其他電子產品 | 溫度130℃ 濕度85% | 美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等 | |||
高溫蒸煮試驗（PCT） | MOSFET、DIODE、BJT、IGBT及第三代半導體器件等產品及其他電子產品 | 溫度121℃ 濕度 | 美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等 | |||
預處理試驗（Pre-con） | 所有SMD類型器件 | 設備滿足各個等級的試驗要求 | 美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等 | |||
潮氣敏感度等級試驗（MSL） | 所有SMD類型器件 | 設備滿足各個等級的試驗要求 | 美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等 | |||
*可焊性試驗（Solderability） | MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR、IC、第三代半導體器件等單管器件 | 有鉛、無鉛均可進行 | 美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等 | |||
西安長禾半導體技術有限公司功率器件測試實驗室(簡稱長禾實驗室)位于西安市*經(jīng)濟開發(fā)區(qū)，是一家專業(yè)從事功率半導體器件測試服務的*，是國家CNAS 認可實驗室，屬于國家大功率器件測試服務中心。
長禾實驗室擁有的系統(tǒng)設備、專業(yè)的技術團隊和完善的服務體系。實驗室現(xiàn)有*的測試儀器設備100余臺套，專業(yè)測試人員20余名。我們緊跟國內標準，以客戶需求為導向，不斷創(chuàng)新服務項目和檢測技術，借助便利的服務網(wǎng)絡，為合作伙伴提供優(yōu)質高效的技術服務。
長禾實驗室專注于功率半導體器件的動、靜態(tài)參數(shù)檢測、可靠性檢測、失效分析、溫循試驗、熱阻測試等領域的技術服務。業(yè)務范圍主要涉及國內軌道交通、風力發(fā)電、科研單位、院所、工業(yè)控制、兵器船舶、航天、新能源汽車等行業(yè)。也是第三代半導體（寬禁帶半導體）應用解決方案服務商。
長禾實驗室秉承創(chuàng)新務實的經(jīng)營理念，為客戶提供優(yōu)質的服務、完善的解決方案及；同時注重與行業(yè)企業(yè)、高校和科研院所的合作與交流，測試技術與服務水平不斷提升。
誠信立世，感恩回饋，歡迎選擇長禾實驗室做您忠誠的合作伙伴，共謀發(fā)展大計！
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