X熒光測(cè)厚儀性能優(yōu)勢(shì)：

精密微型滑軌：精密的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，快速準(zhǔn)定位所需檢測(cè)的樣品。

EFP*算法軟件：可檢測(cè)單鍍層，多鍍層，多元合金，甚至對(duì)于同種元素在不同層的厚度檢測(cè)也能分析，包括輕金屬鍍層，非金屬鍍層，達(dá)克羅，Nip鍍層測(cè)試，包括Ni與P的比例也均可檢測(cè)。

準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片電動(dòng)切換，滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用。

新一代高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率。

高效的散熱系統(tǒng)：對(duì)流通風(fēng)過(guò)濾式風(fēng)冷，儀器即便全天候開(kāi)啟，都可保持恒溫恒效。

X熒光測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)：

測(cè)量元素范圍：CI(17)-U(92)

涂鍍層分析范圍：CI(17)-U(92)

分析軟件：EFP，可同時(shí)分析5層鍍層，10種元素，不同層有相同元素和有機(jī)物厚度也可分析

X射線裝置：升壓發(fā)射一體高分子聚合式W靶微聚焦射線管

接收器：日本東芝正比計(jì)數(shù)管，窗口面積≥150mm²

射線準(zhǔn)直系統(tǒng)：垂直光路交換裝置搭配黃金準(zhǔn)直器

濾光片：鋁、空、鎳

準(zhǔn)直器：ø0.5mm

近測(cè)距光斑擴(kuò)散度：10%

小測(cè)量面積：約0.04mm²

對(duì)焦方式：高敏感鏡頭（無(wú)需增加其他輔助傳感器），手動(dòng)對(duì)焦