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詳細(xì)摘要： 光譜測厚儀環(huán)境要求：使用時溫度：10℃-40℃ 存儲和運(yùn)輸時溫度：0℃-50℃ 空氣相對濕度：≤80%

詳細(xì)摘要： X熒光測厚儀分析軟件：EFP，可同時分析5層鍍層，10種元素，不同層有相同元素和有機(jī)物厚度也可分析

詳細(xì)摘要： XTD（B）鍍層測厚儀自動對焦：高低大小樣品可快速清晰對焦。變焦裝置算法：可對大90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測。

詳細(xì)摘要： 鍍層測厚儀于檢測各種異形件，特別是五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。

詳細(xì)摘要： 能量色散X熒光光譜分析儀搭配微聚焦X射線發(fā)生器和*的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)，以及高敏變焦測距裝置，可測試極微小和異形樣品。

詳細(xì)摘要： 光譜分析儀變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達(dá)0-30mm，微小樣品檢測：小測量面積0.03mm²（加長測量時間可小至0.01m...

詳細(xì)摘要： XAU-4CS光譜分析儀*的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂鍍層，多層多元 素，甚至有同種元素在不同層也可準(zhǔn)測量。

詳細(xì)摘要： XTU-50A X熒光光譜儀射線準(zhǔn)直系統(tǒng)：垂直光路交換裝置搭配黃金準(zhǔn)直器視頻觀測光路系統(tǒng)：垂直光路交換裝置搭載100mm變焦鏡頭

詳細(xì)摘要： XTU-A X熒光光譜儀高效率的接收器：在檢測0.01mm²以下的樣品時，幾秒鐘也可達(dá)到穩(wěn)定性。下照式設(shè)計：快速方便的定位各種形狀的樣品，滿足一切測試...

詳細(xì)摘要： XTU-4C X熒光光譜儀接收器：日本東芝正比計數(shù)管，窗口面積≥150mm²射線準(zhǔn)直系統(tǒng)：垂直光路交換裝置搭配黃金準(zhǔn)直器

詳細(xì)摘要： XTU-BL X熒光光譜儀無損變焦檢測：擁有手動變焦功能，可對各種異形凹槽件進(jìn)行無損檢測，凹槽深度范圍0-30mm。

詳細(xì)摘要： 熒光光譜儀核心EFP算法：Al（13）-U（92）元素的成分分析，Li（3）-U（92）元素的涂鍍層檢測，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可精測量