XDL / XDLM / XDAL

憑借電機(jī)驅(qū)動(dòng)（可選）與自上而下的測(cè)量方向，XDL® 系列測(cè)量?jī)x器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測(cè)試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測(cè)器不同組合的多種型號(hào)，從而能夠根據(jù)不同的測(cè)量需求選擇適合的 X 射線儀器。

XDL臺(tái)式測(cè)厚儀特性：

·         X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測(cè)量任務(wù)

·         由于測(cè)量距離可以調(diào)節(jié)（較大可達(dá) 80 mm），適用于測(cè)試已布元器件的電路板或腔體結(jié)構(gòu)的部件

·         通過(guò)可編程 XY 工作臺(tái)與 Z 軸（可選）實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的批量測(cè)試

·         使用具有高能量分辨率的硅漂移探測(cè)器，非常適用于測(cè)量較薄鍍層（XDAL 設(shè)備）

XDL臺(tái)式測(cè)厚儀應(yīng)用：

鍍層厚度測(cè)量

·         大型電路板與柔性電路板上的鍍層測(cè)量

·         電路板上較薄的導(dǎo)電層和/或隔離層

·         復(fù)雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層

·         鉻鍍層，如經(jīng)過(guò)裝飾性鍍鉻處理的塑料制品

·         氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測(cè)量

材料分析

·         電鍍槽液分析

·         電子和半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性鍍層分析

蘇州優(yōu)儀惠測(cè)儀器有限公司經(jīng)過(guò)長(zhǎng)年的實(shí)踐積累，廣泛的廠家合作，具備了一支在材料分析儀器領(lǐng)域從業(yè)多年的專家隊(duì)伍，能為客戶提供售前咨詢、設(shè)計(jì)選型、安裝調(diào)試、售后保障等一站式服務(wù)。主要服務(wù)產(chǎn)品有：手持式光譜儀、火花直讀光譜儀、材料拉伸試驗(yàn)機(jī)、沖擊試驗(yàn)機(jī)，試驗(yàn)機(jī)，三坐標(biāo)，金相顯微鏡等產(chǎn)品。