好看日韩在线视频免费,日本不卡一区二区三区,三级a全过程在线观看,亚洲精品国产9999久久久久

行業(yè)產(chǎn)品

  • 行業(yè)產(chǎn)品

鉑悅儀器（上海）有限公司


當(dāng)前位置：鉑悅儀器（上海）有限公司>>硅片表面形貌/晶圓測(cè)量>>硅片表面形貌測(cè)量

硅片表面形貌測(cè)量

返回列表頁(yè)
參  考  價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)VIT系列

品       牌

廠(chǎng)商性質(zhì)經(jīng)銷(xiāo)商

所  在  地

聯(lián)系方式：廖女士查看聯(lián)系方式

更新時(shí)間：2021-11-05 17:14:24瀏覽次數(shù)：256次

聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線(xiàn)

經(jīng)營(yíng)模式：經(jīng)銷(xiāo)商

商鋪產(chǎn)品：118條

所在地區(qū)：上海上海市

聯(lián)系人：廖女士 （市場(chǎng)部）

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)品描述：硅片表面形貌測(cè)量VIT系列

詳細(xì)介紹

硅片表面形貌測(cè)量VIT系列

NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:
-TSV profile (depth, top & bottom CD, tilt, SWA)
-Residue Detection
-RST
-Copper Nail Height
-Bump Height and Cu pillar height
-Edge trim profile

3DIC TSV and BWS TTV硅片表面形貌測(cè)量
Film Stress薄膜應(yīng)力量測(cè)儀
FEOL Electrical Characterization 電學(xué)特性
Thin wafer metrology 晶圓測(cè)量學(xué)
Film Adhesion漆膜附著力測(cè)試NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:
-TSV profile (depth, top & bottom CD, tilt, SWA)
-Residue Detection
-RST
-Copper Nail Height
-Bump Height and Cu pillar height

-Edge trim profile


您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN

環(huán)保在線(xiàn) 設(shè)計(jì)制作，未經(jīng)允許翻錄必究 .? ? ? Copyright(C)?2021 http://www.niunang.cn,All rights reserved.

以上信息由企業(yè)自行提供，信息內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé)，環(huán)保在線(xiàn)對(duì)此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。 溫馨提示：為規(guī)避購(gòu)買(mǎi)風(fēng)險(xiǎn)，建議您在購(gòu)買(mǎi)產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。

會(huì)員登錄

×

請(qǐng)輸入賬號(hào)

請(qǐng)輸入密碼

=

請(qǐng)輸驗(yàn)證碼

收藏該商鋪

請(qǐng) 登錄 后再收藏

提示

您的留言已提交成功！我們將在第一時(shí)間回復(fù)您~
| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | |