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更新時(shí)間：2022-08-22 15:38:48瀏覽次數(shù)：383次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微分光計(jì) NFS series使用日本分光制的探頭可準(zhǔn)確使用特定大小的近接場(chǎng)光。
掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微分光計(jì) NFS series
▼概要
日本分光株式會(huì)社生產(chǎn)可以分光測(cè)定的掃描型接近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡NFS系列。 這臺(tái)裝置能10-100nm左右的空間分解力進(jìn)行顯微分光測(cè)量。 能在微小的領(lǐng)域觀測(cè)光譜強(qiáng)度變化以及波峰變換可更好的對(duì)物質(zhì)特性描述。
◆特臺(tái)一體化掃描型近接場(chǎng)光學(xué)分光顯微鏡
數(shù)十～百nm高空間分辨率測(cè)量顯微分光。
使用日本分光制的探頭可準(zhǔn)確使用特定大小的近接場(chǎng)光。
可同時(shí)測(cè)量樣品表面微小的凹凸形狀。和原子力顯微鏡（AFM）類似的用法。
illumination（透過(guò)）、collection、 illumination－collection測(cè)量方式。
◆近接場(chǎng)光學(xué)顯微分光系統(tǒng)
檢測(cè)探頭先端產(chǎn)生的近接場(chǎng)光和樣品表面相互作用產(chǎn)生的散射光
對(duì)于微小領(lǐng)域的表征方法有利用電子線的電子顯微鏡形態(tài)觀察、 X線微分析儀，掃描型探頭電鏡表面形狀觀察。 這些分析方法可以得到高空間分辨率的畫像、但是得不到樣品表面的化學(xué)信息。另外，雖然、顯微FT/IR分光、顯微光激發(fā)光分光、顯微拉曼光等可以得到表面化學(xué)信息，但是因?yàn)榭臻g分辨率有限度、所得到的信息也停留在微米量級(jí)。原因是光的衍射是有限度的不能超過(guò)使用波長(zhǎng)范圍。
掃描型近場(chǎng)顯微鏡可以超過(guò)衍射限度對(duì)極微小領(lǐng)域表征。由數(shù)十～百nm開口的光纖探頭導(dǎo)入光、前端附近產(chǎn)生和開口同等大小的近接場(chǎng)光。將樣品靠近近接場(chǎng)光附近、和樣品表面相互作用的結(jié)果可觀測(cè)到數(shù)十～百nm?，F(xiàn)有的近接場(chǎng)光學(xué)顯微鏡沒(méi)有對(duì)樣品的反射、衍射光進(jìn)行分光后觀測(cè)、NFS系列是可分光的掃描型近接場(chǎng)光學(xué)顯微鏡，世界。
◆新開發(fā)的探針制作技術(shù)
探針先端以及除了開口部分外為金屬套、所以可以防止光外漏
NFS系列光纖前端約為數(shù)十～百nm開口的探頭用于近接場(chǎng)光產(chǎn)生或者近接場(chǎng)光集光。日本分光的開口技術(shù)以神奈川科學(xué)技術(shù)（KAST）的研究成果基礎(chǔ)上開發(fā)的、特定尺寸的開口，再現(xiàn)性好。開口的尺寸用電子顯微鏡高度的控制。
◆NFS series種類
主要有以下種類。重點(diǎn)介紹近接場(chǎng)顯微紅外分光系統(tǒng)。
別的型號(hào)詳細(xì)請(qǐng)咨詢。
室溫型／低溫型 近接場(chǎng)光照射裝置（NFS-220/320）
室溫型／低溫型近接場(chǎng)用掃描裝置（NFS-210/310）
室溫型／低溫型 近接場(chǎng)蛍光／光激發(fā)光分光裝置（NFS-230/330）
近接場(chǎng)顯微鏡近紅外分光裝置（NFS-220FT/320FT）
近接場(chǎng)顯微紅外分光裝置（NFIR-200/250）
近接場(chǎng)納米碳素管評(píng)價(jià)裝置（NFS-230C/330C、特殊定制）
近接場(chǎng)時(shí)間分解分光裝置（NFS-230TR/330TR、特殊定制）
◆NFIR-200/250近接場(chǎng)掃描顯微紅外分光裝置
▼近接場(chǎng)顯微紅外分光裝置
紅外分光法代表的振動(dòng)分光法、不論有機(jī)無(wú)機(jī)應(yīng)用于各種分析領(lǐng)域。但是，現(xiàn)有的紅外顯微分光系統(tǒng)空間分辨率受光的衍射現(xiàn)象的影響，限度為10μm左右。 近接場(chǎng)分光法、可以超過(guò)這個(gè)衍射限度、可見光區(qū)域應(yīng)用于從亞微細(xì)米到納米規(guī)模的光分析，紅外區(qū)域由于光纖探頭吸收的原因不能進(jìn)行分光分析。紅外領(lǐng)域通過(guò)采用漫反射型近接場(chǎng)光學(xué)系統(tǒng)、實(shí)現(xiàn)了從近紅外到中紅外領(lǐng)域的亞微細(xì)米空間分辨率的分光測(cè)量。 通過(guò)照射到探頭前端的紅外光產(chǎn)生紅外近接場(chǎng)光、檢測(cè)近接場(chǎng)光和樣品共鳴漫反射結(jié)果信號(hào)、測(cè)量紅外近接場(chǎng)光譜?？臻g分辨率不受紅外波長(zhǎng)影響、由探頭前端產(chǎn)生近接場(chǎng)光的實(shí)際尺寸決定、大約探頭前端徑大小。因此，紅外分廣發(fā)可用于亞微細(xì)米以下領(lǐng)域測(cè)量。
▼特征和系統(tǒng)略圖
漫反射型近接場(chǎng)光學(xué)裝置可除去光纖探頭吸收的影響。
環(huán)保配置。
NFIR-250的FT部裝有大型測(cè)量用的樣品室，可對(duì)應(yīng)一般的紅外測(cè)量。
裝置的概略圖如下圖。
▼測(cè)量Al線路板上的硅膠粒子
下圖顯示了在Al線路板上涂直徑為3μm硅膠粒子的表面形狀和-CH以及-O吸收峰的映射結(jié)果。 -CH的吸收雖然在粒子內(nèi)部可以觀測(cè)到、但是-OH吸収卻更廣。這是因?yàn)楣枘z粒子表面吸附的水膜的原因。CH和-OH吸收波峰波長(zhǎng)雖然粒子的尺寸只大約為3μm，但是實(shí)際可以測(cè)量到比這個(gè)波長(zhǎng)尺寸更高的空間分解能。
◆規(guī)格
▼NFIR-200/250
機(jī)種 NFIR-200/250 測(cè)量方式 雜散光測(cè)量方式、光學(xué)調(diào)整方式、探頭位置調(diào)整方式 檢測(cè)器 設(shè)置數(shù)量：２種
標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)器：液體氮?dú)饫鋮sMCT檢測(cè)器
選項(xiàng)檢測(cè)器：液體氮?dú)饫鋮sInSb檢測(cè)器
切換方式：電動(dòng) 樣品臺(tái)范圍 豎×橫20×20μm、高16μm 傅里葉變換型分光系統(tǒng) 測(cè)量波長(zhǎng)范圍：4000～1000 cm-1 (MCT使用時(shí)）
5000～2000 cm-1 (InSb使用時(shí))
分辨率：16cm-1
干渉計(jì)：45°入射邁克爾遜干渉計(jì)
分速器：Ge/KBr 微型樣品室 裝備（NFIR-250） 控制用PC OS：Windows XP、通信：16bit AD/DA板、讀取畫像：ビデオキャプチャボード 軟件 反饋信號(hào)顯示器及映射測(cè)量軟件
3次元表示軟件、探頭觀察用CCD畫像表示軟件
映射解析軟件、光譜解析軟件 尺寸?重量 W1000 x D900 x H1300 mm、280kg（NFIR-200、含防振臺(tái)）
W1600 x D750 x H1300 mm、300kg（NFIR-250、含防振臺(tái)） 電源 AC100V±10% 250VA（本體）、150VA（FT）、100VA（PC） 其他必要的工具 防振臺(tái)用空氣源：氮?dú)饣蚩諝庠础?.3～0.8MPa
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