CypherTM高分辨率的快速掃描原子力顯微鏡
使用下一代原子力顯微鏡技術(shù)來解析這個納米世界
我們一直期待能夠有一些真正創(chuàng)新的AFM/SPM新技術(shù)誕生，但是過去十幾年里原子力顯微鏡技術(shù)出現(xiàn)的只是對舊技術(shù)的調(diào)整?，F(xiàn)在牛津儀器Asylum Research推出的全新的Cypher S原子力顯微鏡小樣品AFM/SPM 。它更加強(qiáng)大、易操控、多功能、模塊化、高分辨率且掃描速度提高20倍以上。

能夠在閉環(huán)條件下實現(xiàn)原子級成像的高分辨原子力顯微鏡
使用小探針高速成像（10秒成像）
高速、低噪音的力學(xué)測試
分辨率到達(dá)衍射極限的輔助光學(xué)系統(tǒng)
全自動激光對探針和下針功能


閉環(huán)原子級分辨率
通過在三個掃描軸上都使用準(zhǔn)確的閉環(huán)傳感器確保能夠?qū)崿F(xiàn)高分辯率的準(zhǔn)確成像。有了Cypher，您不再為選擇準(zhǔn)確的閉環(huán)控制或是低噪音的開環(huán)控制而煩惱。Asylum的第三代納米位置控制系統(tǒng)傳感器 (NPS) 可以為您提供噪音控制水平。使用準(zhǔn)確的納米定位器可以提供X、Y和Z軸方向優(yōu)于60pm的準(zhǔn)確控制，不僅可以在閉環(huán)條件下獲得原子級別的分辨率，你還能獲得更加準(zhǔn)確的測試、定位和納米操縱能力。

SpotOn自動校對激光系統(tǒng)
SpotOn全自動激光耦合系統(tǒng)為您提供簡單的操作。使用Cypher的全電動化激光和光學(xué)位置探測器，僅需要輕點(diǎn)鼠標(biāo)就可以將激光光斑自動對焦到探針和光學(xué)位置探測器的中心。


高速度、低噪音的小探針
Cypher系統(tǒng)的激光光斑小可達(dá)3μm，允許使用微小探針進(jìn)行高速輕敲模式成像（10秒成像）。Cypher提供激光定位光斑可以讓您使用10μm以下的探針，這樣就能使您獲得高速的成像和亞皮牛量級的力學(xué)測試。


blueDrive 光熱激發(fā)系統(tǒng)
blueDrive光熱激發(fā)系統(tǒng)，一款專用于Cypher原子力顯微鏡的配件。blueDrive能讓輕敲模式極為簡化、穩(wěn)定和準(zhǔn)確。blueDrive代替了傳統(tǒng)的壓電陶瓷激發(fā)原理，改用藍(lán)色激光加熱懸臂梁，使得懸臂梁在空氣和液體中振動響應(yīng)都很理想，并且使輕敲模式更易操作、性能超群。


從頭到尾的全新設(shè)計
Cypher系統(tǒng)的機(jī)械設(shè)計使其固有的避免了外界振動對系統(tǒng)的影響，不需要外加防震平臺就能實現(xiàn)高精度的測量。一體式的結(jié)構(gòu)設(shè)計減小了熱漂移并降低了外部噪音的影響。系統(tǒng)的整體設(shè)計使原子級平整的樣品都不會受到周期性噪音的影響。Cypher的尺寸僅有40×42cm極大的節(jié)省了實驗空間。
可更換光源模塊拓寬了掃描模式和應(yīng)用的選擇。MultiLuxTM光源模塊提供多種不同光斑尺寸的二極管激光器和低相干的SLD光源以支持不同尺寸的探針。不同模塊的更換只需要一分鐘。
高分辨率的上視光路僅受限于光學(xué)衍射。用戶可在690×920μm視窗下觀察到亞微米的分辨率(20×物鏡)，并可任意的進(jìn)行縮放和移動位置。系統(tǒng)選用科勒系統(tǒng)進(jìn)行照明。
Cypher一體式的結(jié)構(gòu)設(shè)計減小了熱漂移，提高了成像的穩(wěn)定性。掃描過程中的熱漂移控制較以往的AFM提高10倍以上。
售后服務(wù)：AsylumResearch為Cypher提供業(yè)內(nèi)長的兩年免費(fèi)質(zhì)保，兩年之內(nèi)，產(chǎn)品質(zhì)量出現(xiàn)任何問題我們都將免費(fèi)進(jìn)行維修或更換。

應(yīng)用實例
Cypher系統(tǒng)中，你可以進(jìn)行在其他AFM都無法想象的研究。下面是Cypher探究納米世界的幾個具體應(yīng)用例子：

方解石樣品原子缺陷的重復(fù)掃描，掃描范圍20nm

DNA樣品的高分辨率掃描，能偶區(qū)分出DNA雙螺旋的大小溝。掃描范圍150×75nm

DNA拉伸力譜，pN量級分辨率

閉環(huán)條件Dual AC模式對collagen的成像

Bacteriorhodopsin胞外表面的閉環(huán)輕敲模式成像，掃描范圍5nm

Cypher系統(tǒng)功能模式
接觸模式：利用探針彎曲反饋進(jìn)行成像?？梢垣@得高度，反饋和橫向力信號
輕敲模式(AC mode)：帶有Q-control技術(shù)的振幅反饋成像?？稍诖髿饣蛞合喹h(huán)境下獲得高度，振幅/相位，反饋等信號
力學(xué)模式：輕敲或接觸模式下的力曲線測試
Dual ACTM：在成像和諧波測量時提供多頻率驅(qū)動和分析
壓電力顯微鏡(Piezoresponse Force Microscopy)：對壓電材料提供高靈敏度、高偏壓的無干擾測量
靜電力顯微鏡(Electric Force Microscopy, EFM)
掃描開爾文顯微鏡(Scanning Kelvin Probe Microscopy, SKPM)
磁力顯微鏡(Magnetic Force Microscopy,MFM)
納米刻蝕
納米操縱
頻率調(diào)制(Frequency Modulation)

可選模式
ORCA模塊-實現(xiàn)導(dǎo)電AFM：在恒定電壓下通過測試電流實現(xiàn)電學(xué)表征
掃描隧道顯微鏡
blueDriveTM光熱激發(fā)模塊
iDriveTM磁力激發(fā)液相成像模塊
能帶激勵(Bａnd EXcitation)物性測量模塊