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亞測（上海）儀器科技有限公司

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涂層測厚儀N1探頭

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更新時間：2022-07-12 14:12:29瀏覽次數(shù)：240次

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N1探頭是渦流法測量的通用標準探頭，測量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍，也是時代涂層測厚儀的標配探頭。
　　N1探頭是渦流法測量的通用標準探頭，測量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍，也是時代涂層測厚儀的標配探頭。
 
涂層測厚儀N1探頭
涂層測厚儀N1探頭
 
　　工作原理：電渦流 | 分辨力：0.1um
 
　　測量范圍：0-1250 | 銅上鍍鉻0-40um
 
　　示值誤差：
 
　　一點校準：±[3%H+1]um
 
　　兩點校準：±[(1～3)%H+1]um
 
　　測量條件:
 
　　最小曲率半徑：凸3mm
 
　　基體最小面積的直徑：Ф5mm
 
　　最小臨界厚度：0.3mm
 
　　探頭尺寸：Ф15X73mm
 

涂層測厚儀N1探頭

N1探頭是渦流法測量的通用標準探頭，測量范圍0-1250um，基本覆蓋

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F1探頭是磁性法測量的通用標準探頭，測量范圍0-1250um，基本覆蓋

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