產(chǎn)品介紹
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WITec alpha 300S 掃描近場光學(xué)顯微鏡
WITec alpha 300S*的懸臂式掃描近場光學(xué)顯微鏡
alpha 300S一款操作簡易的掃描近場光學(xué)顯微鏡(SNOM),采用*設(shè)備的中空懸臂式近場探針實(shí)現(xiàn)超越衍射極限的光學(xué)分辨率。alpha 300S系統(tǒng)也具備*的兼容性和擴(kuò)展性,可與共聚焦光學(xué)/拉面顯微鏡及原子力顯微鏡集成在同一臺(tái)儀器上,僅需旋轉(zhuǎn)物鏡轉(zhuǎn)輪即可實(shí)現(xiàn)不同模式切換。
WITec alpha 300S 掃描近場光學(xué)顯微鏡
WITec alpha 300S是一種純近場光學(xué)顯微鏡,在很多樣品上都可獲得*的超高分辨率,并且擁有透射與反射式兩種模式。
該近場光學(xué)顯微鏡不同于其他的超分辨顯微鏡,如 STED 和 STORM,后二者往往受限于熒光染料分子的可選種類及特殊的激發(fā)光源。 alpha300S 系統(tǒng)采用軟件可控的快速自動(dòng)進(jìn)針及調(diào)節(jié)等自動(dòng)測試流程,操作非常簡便、直觀。
由于近場光學(xué)信號極其微弱,alpha300 S 近場光學(xué)顯微鏡配備高靈敏單光子計(jì)數(shù)的光電倍增管或雪崩二極管,并同時(shí)提供檢測器快速超載保護(hù)。更重要的是,UHTS 光譜儀可與 alpha300S系統(tǒng)兼容,實(shí)現(xiàn)近場光譜與成像測量。
關(guān)鍵特性:
突破衍射極限的空間光學(xué)分辨率(橫向約 60 nm)
的 SNOM 探針技術(shù)
在空氣與液體中均可使用
包含多種原子力與光學(xué)顯微鏡模式
非破壞性、無需標(biāo)記的超高分辨成像技術(shù),基本不需要樣品制備
可升級到關(guān)聯(lián)的共聚焦拉曼成像和近場拉曼成像
集成三種技術(shù)到一臺(tái)儀器上:共聚焦顯微鏡, AFM 和 SNOM
技術(shù)參數(shù):
1)工作模式:近場顯微鏡,共聚焦顯微鏡,原子力顯微鏡三種工作模式;
2)近場光學(xué)顯微鏡分辨率:為50nm
3) 共聚焦拉曼顯微鏡分辨率:200nm
4) 掃描臺(tái)掃描范圍:100 x 100 x 20 μm
5)探測器:光電倍增管(PMT)或雪崩二極管(APD)