產(chǎn)品介紹

布魯克TI980納米壓痕儀/硬度/彈性模量系統(tǒng)

*的Performech^® II控制模塊和電子設(shè)計(jì)

高性能的高速閉環(huán)控制業(yè)界前者的噪音控制

集成的帶輸入/輸出信號(hào)的多參數(shù)控制五百倍于前代產(chǎn)品的力學(xué)測試速度

多維度測量耦合

充分優(yōu)化各個(gè)傳感器的特質(zhì)適用不同測量需要，通過多維傳感器的選擇實(shí)現(xiàn)

不同測量間的無縫耦合多種有效的測試模塊配置，包括納米/微米壓痕、納米劃痕、納米摩擦磨損、高分辨原位掃描探針顯微鏡成像、動(dòng)態(tài)納米壓痕和高速力學(xué)性能成像等。

豐富的系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)分析軟件

TriboScan(^TM) 10提供了創(chuàng)新性的控制功能，包括XPM超快納米壓痕，SPM+原位掃描探針顯微鏡成像，動(dòng)態(tài)表面搜索，全自動(dòng)系統(tǒng)校準(zhǔn)和創(chuàng)新的測試程序。

Tribo iQ (^TM)提供了強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理、分析和畫圖功能，并具有可編程數(shù)據(jù)分析模塊和自動(dòng)生成的定制測試報(bào)告功能。

極大的靈活性和具有前瞻性的表征潛質(zhì)

布魯克納米壓痕儀Ti 980提供了多級(jí)別的防護(hù)罩提供了*環(huán)境隔絕能力，并具有用于將來的升級(jí)可擴(kuò)展接口樣品臺(tái)提供了機(jī)械、磁性和真空固定方式，適用于各種樣品。

始終處于材料研究和開發(fā)的前沿

海思創(chuàng)從1992年起就在范圍內(nèi)處于納米力學(xué)和納米摩擦學(xué)表征的前進(jìn)位置。通過與研究人員和工程師的持續(xù)合作，布魯克理解您的*需求，通過創(chuàng)新的技術(shù)幫助您解決當(dāng)下和將來面臨的材料挑戰(zhàn)。海思創(chuàng)TI 980 TriboIndenter是這些努力的集大成者。它提供了的性能，能滿足您持續(xù)更新的材料表征需求。

簡潔、高速的自動(dòng)控制——系統(tǒng)自動(dòng)校正使得每次測試都無懈可擊

針尖面積函數(shù)自動(dòng)校正

傳感器自動(dòng)校正

壓針和光學(xué)系統(tǒng)校正

自動(dòng)測試程序

快速、多樣品自動(dòng)測試功能實(shí)現(xiàn)高通量表征

智能化自動(dòng)程序確保用戶選擇合適的針尖

高分辨多尺度成像結(jié)合全尺寸樣品的光學(xué)搜索，極大簡化測試流程

低的噪音水平，實(shí)現(xiàn)真正納米尺度表征

從微米到幾個(gè)納米的多尺度測量納牛級(jí)別的力噪音水平和小于90%原子直徑的位移測量能力，實(shí)現(xiàn)幾乎任何材料的定量表征

系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)超過6個(gè)數(shù)量級(jí)的力測量和10個(gè)數(shù)量級(jí)的位移測量

力和位移噪音水平保證在客戶現(xiàn)場安裝時(shí)實(shí)現(xiàn)

快的反饋控制速率

布魯克納米壓痕儀Ti 980精確控制測試過程實(shí)現(xiàn)大精度、可信度和重復(fù)性的真正定量納米力學(xué)和納米摩擦學(xué)表征特殊的力和位移反饋控制方法用于海思創(chuàng)的傳感器-專門針對海思創(chuàng)傳感器物理特性開發(fā)的力與位移反饋控制算法每隔0.013毫秒實(shí)現(xiàn)一次完整反饋控制，使得系統(tǒng)能測量快速瞬態(tài)過程，并對其作出反饋，真正實(shí)現(xiàn)用戶的測試意圖-每隔0.013毫秒實(shí)現(xiàn)一次完整的感知-分析-控制的循環(huán)，使得系統(tǒng)能對瞬態(tài)過程進(jìn)行測量與反饋，以此重現(xiàn)用戶定義的測試方式

布魯克TI980納米壓痕儀/硬度/彈性模量系統(tǒng)

強(qiáng)大的測試模塊配置，大化您的表征潛能

自下而上的*設(shè)計(jì)提供了世界zui xian jin的納米力學(xué)測試系統(tǒng)

實(shí)現(xiàn)豐富的潛在測試能力

Performech®  II高級(jí)控制模塊

精確控制納米力學(xué)測試過程

業(yè)界前進(jìn)的力和位移噪音水平實(shí)現(xiàn)高的測量精度和重復(fù)性超快反饋控制算法提供整個(gè)測試過程的精確控制專為各種不同測試而開發(fā)的一整套高性能傳感器

多達(dá)24個(gè)通道的數(shù)據(jù)采集能力，每個(gè)通道都能同時(shí)達(dá)到1.2MHz采樣率

多個(gè)測試頭的耦合——一整套傳感器適用于各種測試任務(wù)

任意兩個(gè)測頭之間無縫連接

標(biāo)配二維傳感器和nanoDMA III傳感器實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的多種測試功能和高性能

多種有效的測試模塊配置

納米壓痕：硬度，模量，蠕變，應(yīng)力弛豫，斷裂韌性、高速力學(xué)性能成像

納米摩擦：薄膜結(jié)合力，摩擦系數(shù)，抗劃擦性能，磨損

掃描探針顯微鏡成像：形貌和梯度成像，納米級(jí)別定位精度，摩擦

力成像動(dòng)態(tài)納米壓痕：隨著深度連續(xù)測量硬度和模量，存儲(chǔ)模量，損失模量，損耗角正切