開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置用于導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體或絕緣體材料表面的表面電勢，表面功函由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界分辨率的測試系統(tǒng)。
     UHV-KP020 是超高真空室的一個補充工具，可靠的和可重復(fù)的可輕松獲得，包括高質(zhì)量的線性，使得探針和樣品的定位變得簡單， 的跟蹤系統(tǒng)在測試過程中始終將探針和樣品恒定的分開。對于薄膜研究，亞單層范圍檢測是很平常的；也可選購SPV020或SPS030表面光電壓模塊用于光敏材料研究。

開爾文探針的應(yīng)用領(lǐng)域：
吸附，電池系統(tǒng)，生物學(xué)和生物技術(shù)，催化作用，電荷分析，涂層，腐蝕，沉積，偶極層形成，顯示技術(shù)，教育，光/熱散發(fā)，費米級掃描，燃料電池，離子化，MEMs，金屬，微電子，納米技術(shù)，Oleds，相轉(zhuǎn)變，感光染色，光伏譜學(xué)，高分子半導(dǎo)體，焦熱電，半導(dǎo)體，傳感器，皮膚，太陽能電池，表面污染，表面化學(xué)，表面光伏，表面勢，表面物理，薄膜，真空研究，功函數(shù)工程學(xué)；
目前通過我司購買的的開爾文探針測試系統(tǒng)，目前在南昌航空大學(xué)工作正常，運行穩(wěn)定。

我們的開爾文探針系統(tǒng)包括：
□   單點開爾文探針(大氣環(huán)境及氣氛控制環(huán)境)；
□   掃描開爾文探針(大氣環(huán)境及氣氛控制環(huán)境)；
□   超高真空(UHV)開爾文探針；
□   濕度控制的腐蝕開爾文探針；

技術(shù)參數(shù)：
● 功函分辨率1-3meV（2-10mm探針）
● 用戶自定針尺寸（2-10mm）
● 用戶自定探針長度（法蘭到樣品）
● DN40（2.75''安裝端口）-其他可選
● 50mm手動平移器（100mm可選）
● 真空度2X10-11mbar
● 跟蹤系統(tǒng)自動控制樣品和探針距離
● 過零信● 表面光電壓模塊SPV020和SPS030
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