梅特勒XP微量天平的詳細介紹

梅特勒XP微量天平性能特點

●采用分離的稱量單元和顯示控制單元，避免電子元件散熱對稱量結(jié)果準確性的影響
●天平校驗功能（BalanceCheck），自動提示用戶使用外置砝碼校正/校準天平，確保稱量結(jié)果始終準確
●GWPExcellence^TM一體化安全功能，確保天平始終正確工作
●優(yōu)化天平適應(yīng)性的稱量參數(shù)設(shè)置，滿足不同稱量環(huán)境要求
●*可拆卸、清洗的內(nèi)部和外部玻璃防風(fēng)罩設(shè)計，實現(xiàn)天平的快速清潔
●豐富的內(nèi)置稱量應(yīng)用程序：基礎(chǔ)稱量、統(tǒng)計功能、配方稱量、計件稱量、百分比稱量、密度測量、差重稱量




最小稱量值（Minweigh）功能：可設(shè)置多達3個符合不同質(zhì)量法規(guī)（GMP/GLP/USP）的最小稱量值，滿足相關(guān)質(zhì)量法規(guī)要求，獲得無懈可擊的稱量幫助。

梅特勒XP微量天平技術(shù)參數(shù)

型號	稱量值 [g]	可讀性 [mg]	重復(fù)性（sd） [mg]	線性誤差 [mg]	典型穩(wěn)定時間 [s]	秤盤尺寸（W×D） [mm]
XP26	22	0.001	0.0025	0.006	3.5	40×40
XP26DR	5.1/22	0.002/0.01	0.002/0.008	0.01	3.5/2.5	40×40
XP56	52	0.001	0.006	0.02	3.5	40×40
XP56DR	11/52	0.002/0.01	0.002/0.014	0.03	3.5/2.5	40×40

DR=變量程；sd=標準偏差