梅特勒XP系列分析天平的詳細介紹

梅特勒 XP系列分析天平性能特點

梅特勒 XP系列分析天平主要特點：采用分離的稱量單元和顯示控制單元，避免電子元件散熱對稱量結(jié)果準確性的影響
●XP系列分析天平
●XP系列分析天平天平校驗功能（BalanceCheck），自動提示用戶使用外置砝碼校正/校準天平，確保稱量結(jié)果始終準確
●GWPExcellence^TM一體化安全功能，確保XP系列分析天平始終正確工作
●優(yōu)化XP系列分析天平適應(yīng)性的稱量參數(shù)設(shè)置，滿足不同稱量環(huán)境要求
●XP系列分析天平*可拆卸、清洗的內(nèi)部和外部玻璃防風罩設(shè)計，實現(xiàn)天平的快速清潔
●XP系列分析天平豐富的內(nèi)置稱量應(yīng)用程序：基礎(chǔ)稱量、統(tǒng)計功能、配方稱量、計件稱量、百分比稱量、密度測量、差重稱量

水平控制系統(tǒng)（LevelControl）：XP系列分析天平在使用過程中或移動后偏離水平位置影響到稱量結(jié)果的準確性時，水平控制系統(tǒng)會發(fā)出聲音警告，并顯示調(diào)整信息，準確地指導您調(diào)節(jié)分析天平恢復至水平位置。

紅外感應(yīng)器（SmartSens）：實現(xiàn)無需用手接觸的分析天平操作：開關(guān)門、去皮、回零、打印。即使稱量毒性或腐蝕性樣品，您也一樣安全無憂！

專業(yè)級全自動校準技術(shù)（proFACT）：XP系列分析天平實現(xiàn)溫度漂移和用戶時間設(shè)置觸發(fā)的全自動內(nèi)置砝碼校正和線性校正。

梅特勒 XP系列分析天平技術(shù)參數(shù)

XP分析天平型號	稱量值 [g]	可讀性 [mg]	重復性（sd）[mg]	線性誤差 [mg]	典型穩(wěn)定時間 [s]	秤盤尺寸（W×D）[mm]
XP105DR	31/120	0.01/0.1	0.0015/0.06	0.15	1.5	78×73
XP205	220	0.01	0.03	0.1	2.5	78×73
XP205DR	81/220	0.01/0.1	0.0015/0.06	0.15	1.5	78×73
XP204	220	0.1	0.007	0.2	1.5	78×73
XP504	520	0.1	0.12	0.4	1.5	78×73
XP504DR	101/520	0.1/1	0.1/0.6	0.5	1.5	78×73