第4代AccuTOF GC 系列產(chǎn)品性能進一步改進, 升級為AccuTOF GCx!

  將在很多的領域為您提供分析解決方案。

  通過精確質(zhì)量測試推測元素的組成，AccuTOF GCx 能長時間且比較穩(wěn)定地進行高靈敏度, 高分辨率, 高質(zhì)量準確度的測試。此外, AccuTOF GCX 作為GC-HR TOFMS具有高數(shù)量級的動態(tài)范圍, 在同一譜圖內(nèi)不管是測試基峰還是小峰, 質(zhì)量準確度都較高, 因此能較容易推測分子離子和碎片離子的元素組成, 基于寬動態(tài)范圍還能容易地對不同濃度的混合樣品進行GC/MS 測試。

  高分辨率

  全氟

  高質(zhì)量準確度(不同濃度下的同一個離子峰)

  八氟萘

  長時間的穩(wěn)定性

  八氟萘

  高靈敏度

  連續(xù)測試八次100fg 八氟萘(OFN) 后, 由EIC中的積分面積標準偏差計算出儀器的檢出限(IDL)為16fg。

  CV ：相對標準偏差  IDL ：儀器檢出限

  寬質(zhì)量范圍用Direct TOFMS也能測試低聚物

  AccuTOF GCx 不但具有寬質(zhì)量范圍, 還有多種直接進樣系統(tǒng), 可以測試GC無法進樣測試的大分子量樣品。

  聚苯乙烯5200 的FD 質(zhì)譜圖

  多種電離方法和進樣技術(shù)FI 法和FD 法 適合于確認分子量的軟電離方式

  FI / FD 法與EI 法或CI 法相比, 是分子離子內(nèi)部能量較小的電離方法, 由于這種軟電離方式不容易引起碎片化, 因此適合于確認分子量。

  FI(Field Ionization ：場電離)法

  通過GC 或標準樣品進樣口能將樣品導入離子源。

  CI 源需要依據(jù)待測對象化合物選擇試劑氣體種類, 但FI 源不需要。

  軟電離技術(shù)也可以適用于難揮發(fā)性樣品，對容易碎片化的含氟化合物也檢測出了分子離子。

  FD(Field Desorption ：場解吸)法

  將樣品直接涂在發(fā)射體上。

  很適合分析熱不穩(wěn)定化合物。

  很適合于可溶于非極性溶劑的樣品

  能測試可以分散在溶劑中的粉末樣品

  能測試低～中極性的金屬絡合物。

  能分析一般GC/MS 無法測試的樣品, 如聚合物, 高分子材料等。

  對難揮發(fā)性的離子液體也能迅速獲得分子量信息。

  EI/FI/FD 復合離子源(選配件)同一個離子源可以使用EI 法(硬電離方式)和I/FD 法(軟電離方式)。

  可簡單, 迅速地切換EI 和 FI/FD電離方式。

  直接進樣方式(選配件)

  根據(jù)用途備有兩種直接進樣桿

  電離方法可以選擇EI 和CI。

  DEP (Direct Exposure Probe)

  適合高沸點化合物 / 熱不穩(wěn)定化合物, 將溶在溶劑中的樣品涂在燈絲前端。

  DIP (Direct Insertion Probe)

  直接進樣桿適合于高沸點化合物及不溶于溶劑的樣品。

  固體樣品可以直接放入專門用的玻璃樣品管

  EI 和FI 結(jié)合的定性分析對EI的質(zhì)譜圖可用譜庫檢索，根據(jù)碎片離子的成份推斷可獲得結(jié)構(gòu)信息。另一方面根據(jù)FI檢測出的分子離子能推斷出分子量和元素成份。通過綜合來自EI和FI的信息，就可以進行定性分析而不必單純地依賴譜庫檢索，這種組合技術(shù)對于雜質(zhì)等未知成分的定性分析有效。

  FI 法和FD 法 適合于確認分子量的軟電離方式

  FI / FD 法與EI 法或CI 法相比, 是分子離子內(nèi)部能量較小的電離方法, 由于這種軟電離方式不容易引起碎片化, 因此適合于確認分子量。

  FI(Field Ionization ：場電離)法

  通過GC 或標準樣品進樣口能將樣品導入離子源。

  CI 源需要依據(jù)待測對象化合物選擇試劑氣體種類, 但FI 源不需要。

  軟電離技術(shù)也可以適用于難揮發(fā)性樣品，對容易碎片化的含氟化合物也檢測出了分子離子。

  FD(Field Desorption ：場解吸)法

  將樣品直接涂在發(fā)射體上。

  適合分析熱不穩(wěn)定化合物。

  適合于可溶于非極性溶劑的樣品

  能測試可以分散在溶劑中的粉末樣品

  能測試低～中極性的金屬絡合物。

  能分析一般GC/MS 無法測試的樣品, 如聚合物, 高分子材料等。