SGP-8000型CCD直讀光譜分析儀采用標準的設(shè)計和制造工藝技術(shù)，全數(shù)字化及互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)結(jié)合，運用高分辯率CMOS檢測器，精密設(shè)計的氬氣吹掃系統(tǒng)，使儀器具有*的性能、極低的成本、以及 具竟爭力的價格。

   SGP-8000型CCD直讀光譜分析儀規(guī)格和技術(shù)參數(shù)
項目 指標 
檢測基體 多基體（鐵基、銅基、鋁基） 
檢測時間 試樣品類型而定，一般25s左右 
光學(xué)系統(tǒng) 帕型－龍格羅蘭圓全譜真空型光學(xué)系統(tǒng) 
波長范圍 165～580nm 
焦距 300mm 
光柵刻線 3600條/mm 
探測器 高性能CMOS檢測器 
電極 鎢材噴射電極 
分析間隙 樣品臺分析間隙：3.4mm 
工作溫度 (10～35)℃ 
存儲溫度 (0～45)℃ 
工作濕度 20％～80％ 
氬氣純度要求 99.999% 
氬氣進口壓力 0.5MPa 
氬氣流量 激發(fā)流量約3.5L/min，維持流量約0.4L/min  
激發(fā)大功率 400VA 
光源類型 全新可調(diào)節(jié)數(shù)字化光源，高能預(yù)燃技術(shù)（HEPS） 
放電頻率 100-1000 Hz 
放電電流 大400A 
激發(fā)臺孔徑 13mm 
工作電源 220V AC，50/60Hz，保護性接地的單相電源 
儀器尺寸 714*558*270（mm） 
儀器重量 40kg 
    
光學(xué)系統(tǒng)
l 帕型-龍格結(jié)構(gòu)的全譜光學(xué)系統(tǒng)
l 波長覆蓋范圍寬
l 多個高性能CMOS探測器
l 一體化光學(xué)室加工成型，耐環(huán)境溫度變化
l 光室恒溫控制，恒溫溫度為34℃；
樣品激發(fā)臺
l 集成氣路、噴射電極技術(shù)；
l 優(yōu)化的氬氣氣路設(shè)計保證激發(fā)臺的有效冷卻和激發(fā)過程中產(chǎn)生的金屬粉塵有效進入過濾器；使樣品激發(fā)更加穩(wěn)定，并大大減少了人體對金屬粉塵的攝入，有利于保護操作人員的健康安全；
l 更小的激發(fā)空間，使氬氣消耗更小；
l 便于使用的樣品夾具
l 具有電極自吹掃功能，使電極使用壽命更長、清潔電極更加容易
l 開放式樣品激發(fā)臺可適應(yīng)各種大小、更多形狀樣品的分析（含線材）；
l 單反式透鏡裝置設(shè)計，一般人員都能方便對激發(fā)臺進行維護和透鏡的清洗
 激發(fā)光源
l 全新可調(diào)節(jié)數(shù)字化光源，高頻率可達1000Hz；
l 高能預(yù)然技術(shù)（HEPS）；
l 優(yōu)化設(shè)計的控制和功率電路，完善的激發(fā)安全保護功能
l 為不同分析目標提供火花、電弧或組合激發(fā)波形
l 放電電流：大400 A
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)
l 高性能ARM數(shù)據(jù)處理器，具有超高速數(shù)據(jù)采集及控制功能
l 高性能多CMOS檢測技術(shù)，波段內(nèi)的譜線全譜接收；
l 外置式計算機（用戶自選）
l FPGA及高速數(shù)據(jù)通訊技術(shù)，數(shù)據(jù)讀入功能強大，檢測數(shù)據(jù)整體讀入時間短
分析軟件
l 基于Windows系統(tǒng)的多國語言的CCD全譜圖形化分析軟件，方便實用
l 器可配置多條工廠校正曲線及更多材質(zhì)分析及*解決方案
l 軟件實現(xiàn)全譜檢測、智能扣干擾、扣暗電流、背景和噪聲的算法，提高儀器的分析能力
l 完備的自動系統(tǒng)診斷功能
l 完善的數(shù)據(jù)庫管理功能，可方便查詢、匯總數(shù)據(jù)
l 智能校正算法，保證儀器穩(wěn)定可靠
l 完備的譜線信息和干擾扣除算法，保證儀器分析
l 適應(yīng)新的Windows操作系統(tǒng)
l 能夠自動完成數(shù)據(jù)采集、處理、生成office辦公軟件能接受的數(shù)據(jù)格式