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蘇州華碧微科檢測技術(shù)有限公司
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更新時(shí)間：2023-08-10 16:19:15瀏覽次數(shù)：144次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來自 環(huán)保在線華碧實(shí)驗(yàn)室在電子元器件、微電子技術(shù)的質(zhì)量與失效分析方面完成了大量科研任務(wù)，為提供行業(yè)的技術(shù)服務(wù)積累了厚實(shí)的技術(shù)基礎(chǔ)
華碧實(shí)驗(yàn)室在電子元器件、微電子技術(shù)的質(zhì)量與失效分析方面完成了大量科研任務(wù)，為提供行業(yè)的技術(shù)服務(wù)積累了厚實(shí)的技術(shù)基礎(chǔ)。近些年來，隨著企業(yè)對電子產(chǎn)品壽命評估、工藝質(zhì)量改進(jìn)、產(chǎn)品可靠性增長，為企業(yè)提供相關(guān)科研技術(shù)支撐和實(shí)際問題解決方案。
科研對象 Research Objects
| 大規(guī)模集成電路 線路板及線路板組件 混合集成電路及多芯片組件 光電器件 微波器件及組件 阻容元器件、繼電器、連接器 RoHS及有害物質(zhì)控制管理系統(tǒng) | Integrated Circuit |
| 可靠性物理 失效模式、失效機(jī)理及其數(shù)理模型 可靠性設(shè)計(jì)與仿真技術(shù) ESD設(shè)計(jì) 熱設(shè)計(jì)有限元仿真 生產(chǎn)過程質(zhì)量控制技術(shù) SPC、Cpk、PPM、6σ、QCC 失效分析與材料分析技術(shù) FIB、EB、SEM及其分析技術(shù) 可靠性測試、評價(jià)、試驗(yàn)技術(shù) *電子封裝/組裝互連可靠性 高加速應(yīng)力試驗(yàn)方法，極限應(yīng)力試驗(yàn)方法 電子產(chǎn)品壽命評價(jià) 可靠性增長技術(shù) 基于失效物理 （PoF）的可靠性增長方案 | Reliability Physics |
| RoHS及有害物質(zhì)控制管理系統(tǒng) 強(qiáng)大的可靠性數(shù)據(jù)庫 專業(yè)試驗(yàn)設(shè)備研制 | RoHS & Pollution Administration system |
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