| 產(chǎn)品信息 |
易操作、多功能、多用途的X射線衍射儀的新時代！ Ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應(yīng)力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結(jié)晶度/精密Ｘ射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析。MAXima_X XRD-7000LabX XRD-6000 垂直型測角儀配備高精度垂直型測角儀，適用于粉末、薄膜、難于固定的樣品、易溶樣品等各種樣品的測定。XRD-6000具有本質(zhì)安全結(jié)構(gòu)。 只有門連鎖機構(gòu)閉鎖時，X射線管才能開啟，具備高安全性。 配備高速運轉(zhuǎn)（1000°/min）及高精度角度重現(xiàn)性（±0.0001°）的垂直型測角儀，可進行各種樣品的測定。 驅(qū)動機構(gòu)為獨立2軸驅(qū)動，可選擇θ-2θ聯(lián)動或θ、2θ軸獨立驅(qū)動，特別對薄膜測定行之有效。 備有豐富的附件（軟件/硬件）來滿足多種需要。 對應(yīng)工業(yè)環(huán)境測定標準/工業(yè)環(huán)境評價標準修訂X射線衍射儀XRD-6000 環(huán)境測定包適合工業(yè)環(huán)境中的游離硅及石棉的定性/定量分析。
MAXima_X XRD-7000 高精度樣品水平型測角儀S配備具有0.0001°最小步進的高精度樣品水平型測角儀。根據(jù)分析目的，可以選擇適合分析大型樣品的Ｌ型（350mmφ樣品）和通用的S型。XRD-7000系列配備了樣品水平型測角儀，能夠測定超大型樣品。 不但可進行定性/定量等基本分析，還可以應(yīng)用于殘留奧氏體定量、環(huán)境定量、晶格常數(shù)的精密化、結(jié)晶度的計算、晶體粒徑和晶格應(yīng)力的計算、晶系確定、Rietveid結(jié)構(gòu)解析軟件進行的晶體結(jié)構(gòu)解析。通過追加附件，還可以應(yīng)用于應(yīng)力測定、樣品加熱過程的分析、薄膜樣品測定等。 利用新開發(fā)的大型R-θ樣品臺，可以進行350mmφ樣品全表面的自動應(yīng)力成圖測定。 使用XRD-7000進行的剎車盤應(yīng)力成圖分析實例
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