日本電子 JXA-8230 電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。日本電子新開發(fā)出的EPMA （電子探針）秉承近半個世紀(jì)的EPMA的發(fā)展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長年來對高可靠性硬件不斷改良的結(jié)果。

詳細(xì)介紹

日本電子 JXA-8230 電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。日本電子新開發(fā)出的EPMA （電子探針）秉承近半個世紀(jì)的EPMA的發(fā)展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長年來對高可靠性硬件不斷改良的結(jié)果。JXA-8230電子探針是下一代能滿足多種需求的強(qiáng)力分析工具之一。
日本電子 JXA-8230 電子探針顯微鏡分析儀EPMA快速啟動點(diǎn)擊任何一點(diǎn)，就能開始預(yù)設(shè)的EDS定性、定量分析或WDS分析。用戶菜單（User recipes）能保存或調(diào)用經(jīng)常使用的各種不同類型的樣品分析條件，菜單中包括了全部的電子光學(xué)參數(shù)、EDS和WDS參數(shù)在內(nèi)。EDS 的性能數(shù)字化脈沖處理器全譜面分布(WD/ED, 樣品臺和電子束掃描)無風(fēng)扇SDD (選配)
產(chǎn)品規(guī)格檢測元素范圍 WDS：(Be)*1 /B～U, EDS：B～UX射線檢測范圍 WDS檢測的波長范圍: 0.087～9.3nm,EDS EDS檢測的能量范圍: 20keV分光譜儀數(shù)量 WDS: 1～5道可選、EDS: 1臺zui大樣品尺寸 100mm × 100mm × 50mm（H）加速電壓 0.2～30kV（以0.1 kV為步長）束流電流范圍 10-12 ～ 10-5 A束流電流穩(wěn)定度 5%/h, ±0.3%/12h（W）二次電子分辨率 6nm（W）, 5nm（LaB6）*2（W.D. 11mm, 30kV）掃描倍率 ×40 ～ ×300,000（W. D. 11mm）掃描圖像分辨率 zui大 5,120× 3,840彩色顯示器 EPMA分析用: LCD 1,280 × 1,024SEM操作、 EDS分析用: LCD 1,280 × 1,024*1: 需安裝用于Be分析的選配分光晶體。*2: LaB6 為選配。