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更新時(shí)間:2024-03-29 17:04:43瀏覽次數(shù):195次
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納米粒度分析儀:N4Plus是采用激光法測(cè)超細(xì)顆粒的儀器,激光法測(cè)顆粒度,是基于ISO13321標(biāo)準(zhǔn)分析顆粒粒度的一種方法,即利用運(yùn)動(dòng)著的顆粒所產(chǎn)生的動(dòng)態(tài) 的散射光,通過(guò)光子相關(guān)光譜分析法PCS(Photon Correlation Spectroscopy)分析納米顆粒粒度,其特點(diǎn)是快速、準(zhǔn)確、分辨率高。
納米粒度分析儀技術(shù)參數(shù)
1.測(cè)量范圍: 3-3,000nm
2.測(cè)量時(shí)間:30-180秒
3.重現(xiàn)性: 優(yōu)于3%CV
4.可區(qū)別平均粒度比大于2.5的兩個(gè)峰
5.精度: 2-5%
主要特點(diǎn)
1.是采用六個(gè)角度(在0-900C角度范圍)檢測(cè)的儀器
2.的指紋分析給出六角度的Unimodal分析圖,快速判別樣品類(lèi)型
Zeta電位和分子量分析儀的技術(shù)參數(shù)
1、粒徑測(cè)量
粒徑范圍: 0.3 nm - 10 μm *
濃度范圍: 0.1ppm – 40% w/v *
檢測(cè)角度: 175o 和 12.8o
最小樣品量: 12 μl
2、Zeta電位測(cè)量
Zeta電位范圍: 無(wú)實(shí)際限制
電泳遷移率: 0 – 無(wú)實(shí)際上限
樣品電導(dǎo)率: 200mS/cm
樣品濃度: 40% w/v
最小樣品量: 150 μl
粒徑范圍: 3.8nm - 100 μm *
3、分子量測(cè)量
分子量范圍 342 - 2 ×107 Da * (動(dòng)態(tài)光散射)
980 - 2 ×107 Da * (靜態(tài)光散射)
最小樣品量 12 μl
* 取決于樣品
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