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納米粒度儀

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更新時(shí)間：2022-11-28 15:34:04瀏覽次數(shù)：302次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

SZ-100V2納米顆粒分析儀是準(zhǔn)確測(cè)量小顆粒物理性質(zhì)的分析工具，如顆粒粒徑、zeta電位的檢測(cè)，分子量（Mw）以及第二維利系數(shù)（A2）的測(cè)定；還可以用于檢測(cè)蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)

詳細(xì)介紹

SZ-100 V2 納米顆粒分析儀是準(zhǔn)確測(cè)量小顆粒物理性質(zhì)的分析工具，如顆粒粒徑、zeta電位的檢測(cè)，分子量（Mw）以及第二維利系數(shù)（A2）的測(cè)定；還可以用于檢測(cè)蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)。SZ-100 V2納米顆粒分析儀典型應(yīng)用包括：納米顆粒，膠體，乳液以及亞微米懸浮液。

主要特點(diǎn)

· 同臺(tái)儀器可測(cè)三種參數(shù)——粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數(shù)

· 寬檢測(cè)范圍，寬濃度范圍——樣品濃度可達(dá)40%

· 自動(dòng)滴定儀——可用于zeta電位測(cè)量過(guò)程中pH值的自動(dòng)滴定

· 軟件操作簡(jiǎn)單功能強(qiáng)大，一鍵測(cè)量

· 雙光路雙角度粒徑測(cè)量（90° 和173°）

· 采用微量樣品池

規(guī)格參數(shù)

粒徑測(cè)量原理：動(dòng)態(tài)光散射法（光子相關(guān)光譜法）

粒徑測(cè)定范圍：0.3nm ～10μm

粒徑測(cè)量精度：±2%（NIST 可溯源標(biāo)準(zhǔn)粒子100nm）

Zeta 電位測(cè)量原理：激光多普勒電泳法