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更新時(shí)間：2022-10-10 13:03:08瀏覽次數(shù)：235次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來自 環(huán)保在線操作簡單且直觀*:和TM4000Plus搭配應(yīng)用實(shí)例*:探測器內(nèi)置型(制造商: 德國Bruker nano GmbH)
操作簡單且直觀
僅需選擇圖像和模板，即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同時(shí)，實(shí)時(shí)顯示點(diǎn)分析、線分析結(jié)果等多種分析。
可根據(jù)點(diǎn)位置移動實(shí)時(shí)追蹤譜圖，輕松確認(rèn)目標(biāo)元素。
分離出常規(guī)面分布圖像中的譜峰重疊元素，并顯示正確結(jié)果。
| 項(xiàng)目 | 內(nèi)容 |
|---|---|
| 探測器類型 | 硅漂移探測器 |
| 探測器面積 | 30 mm2 |
| 能量分辨率 | 148 eV (Cu-Kα) (Mn-Kα時(shí)不高于129 eV) |
| 可檢測元素 | B5～Cf98 |
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