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上海浦量元精密機電有限公司


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Verifire MST激光干涉儀

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產(chǎn)品型號Verifire™ MST

品       牌

廠商性質其他

所  在  地

聯(lián)系方式:Sindy Lee(量具部); Nicole Zhu(儀器部)查看聯(lián)系方式

更新時間:2022-09-15 15:26:17瀏覽次數(shù):266次

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經(jīng)營模式:其他

商鋪產(chǎn)品:53條

所在地區(qū):

聯(lián)系人:Sindy Lee(量具部); Nicole Zhu(儀器部)

產(chǎn)品簡介

可以進行三個甚至四個平行面的測量,不僅可以顯示所有的面,并且可以排除其他的面而單獨顯示你所需要的面。

詳細介紹

Verifire™ MST多表面測量激光干涉儀

Verifire™MST激光干涉儀提供了一個****的嶄新的測量方式和能力,傳統(tǒng)的激光干涉儀應用是測量兩個面的波前變化,也就是說測量一個 由兩個面所形成的腔。但是,如果所測量的是一個沒有經(jīng)過鍍膜的平行平板,則就會產(chǎn)生兩個疊加的干涉條紋(三個面的腔所形成),這樣就會干擾標準的位相干涉測量分析?,F(xiàn)在,ZYGOVerifire™ MST激光干涉儀解決了這一個問題,通過波長調(diào)制技術和ZYGO新的傅立葉變換方法,可以進行三個甚至四個平行面的測量,不僅可以顯示所有的面,并且可以排除其他的面而單獨顯示你所需要的面。

三平面干涉測量

激光干涉儀可以在你的測量中,只要一次數(shù)據(jù)采集,就可以得到平行平板前表面和后表面的平面度,同時還能得到平行平板的光學厚度:

? 前表面形貌圖

? 光學厚度變化

? 物理厚度變化和后表面形變

四表面干涉測量

這一技術能夠通過兩次數(shù)據(jù)采集得到下列結果:

? 前表面和后表面的形貌圖

? 物理厚度變化

? 光學厚度變化

? 折射率變化
-
非線性材料均勻性
-
線性材料均勻性

多表面樣品測量快速、簡單和質量提升

同時測量表面形變和光學厚度變化

平行平板兩側測量就可以得到其均勻性:

? 不需要涂油就可以進行安全、快速測量

? 兩次測量不需要進行調(diào)整

新型的線性材料均勻性測量

快速測量,只需要幾分鐘而不是幾個小時

 

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