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日立臺式電子顯微鏡電鏡 TM4000/TM4000Plus

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更新時間：2022-08-25 17:52:48瀏覽次數(shù)：566次

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產品簡介

日立TM4000掃描電鏡的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。TM4000優(yōu)化提供5kV、10kV、15kV三種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。

詳細介紹

日立臺式電鏡產品介紹：

日立TM4000掃描電鏡的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。TM4000優(yōu)化提供5kV、10kV、15kV三種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的SEM-MAP導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納樣品直徑80mm，厚度50mm。

TM4000Plus是在TM4000基礎上增加高靈敏度低真空二次電子探頭UVD，該探頭在低真空環(huán)境下具有很好的成像質量。TM4000Plus可將二次電子圖像和背散射電子圖像疊加并實時進行顯示，獲得最多的樣品信息?？蛇x配附件豐富，擁有諸多附加功能。

主要參數(shù)：

1. 觀察條件:5kV/10kV/15kV（均四檔可調）、EDX

2. 放大倍率：10×~100000×

3. 觀察模式：導體（TM4000Plus）、標準模式，消除電荷模式

4. 探測器：4分割背散射探測器、低真空二次電子探測器（TM4000Plus）

服務范圍：

測試項目 Test Item	服務范圍 Scope
微觀形貌觀察	根據客戶要求對樣品區(qū)域、形貌進行觀察與分析，放大倍數(shù)＜10,000倍；不能測試液體及易揮發(fā)物質
元素分析	測量范圍/精度: Li3~Cf98 適用范圍：高聚物、金屬、無機物、粉末等；定性半定量；不能測試液體及易揮發(fā)物質
斷面分析	1. 針對斷裂樣品進行，使用光學顯微鏡和掃描電子顯微鏡進行觀察 2. 主要判斷斷裂方式(韌性、脆性)、裂紋源頭、延展方向等 3. 報告中包含斷口圖片和分析結果，但無法判斷斷裂原因
異物失效分析	金屬腐蝕產物分析金屬鍍層析出物定性分析介質污染異物類分析
鍍層厚度及成分定性分析	針對部分真空電鍍至0.8μm以下鍍層厚度，進行SEM厚度測試，分辨率可達0.01μm；及多層鍍層線掃描成分分析