菲希爾x-ray射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x射線厚度測試儀/x射線鍍層厚度檢測儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237配備可編程運行XY軸工作臺及Z軸升降系統(tǒng)，全自動測量超薄鍍層厚度和分析材料成分。XDAL 237菲希爾x-ray射線熒光光譜鍍層材料分析儀是一款應用廣泛的能量色散型射線熒光材料分析及鍍層測厚儀。它尤其適合在自動化測量應用中無損測量超薄鍍層厚度和分析材料。

詳細介紹

菲希爾x-ray射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x射線厚度測試儀/x射線鍍層厚度檢測儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237設計理念：

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237是一款界面友好的臺式測量儀器。它裝備了高精度，可編程運行的工作臺和電調的軸升降系統(tǒng)，是進行自動測量的理想儀器。當保護門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。通過激光光點，可以輔助定位并快速對準測量位置。高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以精-確定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實時觀察測量過程和進度。位置的精-確微調可以直接手動調整儀器或搖桿，或通過操作鼠標和鍵盤來實現(xiàn)。測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計，由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。所有的操作，測量數(shù)據的計算，以及測量數(shù)據報表的清晰顯示都是通過強大而界面友好的軟件在電腦上完成的。

XDAL型鍍層測厚及材料分析儀作為受保護的儀器，型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法規(guī)規(guī)定。

菲希爾x-ray射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x射線厚度測試儀/x射線鍍層厚度檢測儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237典型的應用領域有：

? 分析小于的超薄鍍層

? 測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層

? 測定復雜的多鍍層系統(tǒng)

? 全自動測量，如在質量控制領域

? 分析焊錫中鉛含量

? 配備可選的 SDD 探測器：可測量鎳磷中的磷含量

為了使每次測量都在*佳的激發(fā)條件下進行，德國菲希爾/費希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測試儀/射線鍍層厚度檢測儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237配備了可電動切換的多個準直器和基本濾片。*新的半導體探測器能夠達到很高的分析精度及探測靈敏度。型射線熒光材料分析及鍍層測厚儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就大大減少了重新校準儀器的需要，為您節(jié)省時間和精力。由于采用了基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。從元素鋁（）到鈾（），*多可同時測定種元素。尤其適合測量和分析超薄鍍層，即使是十分復雜的成分構成或是十分微小的成分含量都不成問題。儀器配備高速可編程運行的平臺，它是質量控制和生產監(jiān)控的自動測量過程的*合適的測量儀器。