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更新時間:2024-05-29 17:57:51瀏覽次數(shù):199次
聯(lián)系我時,請告知來自 環(huán)保在線德國蔡司MultiSEM 505/506掃描電子顯微鏡專為 7 x 24 小時的連續(xù)、可靠運行而設(shè)計。只需簡單設(shè)置高性能數(shù)據(jù)采集流程,MultiSEM 便能夠獨立地自動完成高襯度圖像采集。使用成熟的 ZEN 成像軟件控制 MultiSEM:您可以直觀靈活地管理這款高性能掃描電子顯微鏡的所有功能選項。
蔡司 MultiSEM 研究合作計劃速度非凡的掃描電子顯微鏡.
開啟電子顯微鏡速度的革新時代
借助 MultiSEM 顯微鏡,您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度?,F(xiàn)如今,您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡(SEM)專為 7 x 24 小時的連續(xù)、可靠運行而設(shè)計。只需簡單設(shè)置高性能數(shù)據(jù)采集流程,MultiSEM 便能夠獨立地自動完成高襯度圖像采集。
使用成熟的 ZEN 成像軟件控制 MultiSEM:您可以直觀靈活地管理這款高性能掃描電子顯微鏡的所有功能選項。
產(chǎn)品特點
以*速度和納米分辨率采集圖像
大型樣品的采集和成像
ZEN 成像軟件
MultiSEM 同時運用了多條電子束(綠色:照明通路)和多個探測器。微調(diào)探測通路能夠收集大量的二次電子(SE)用于成像。與分光鏡組合使用,可讓二次電子信號到達(紅色:探測通路)多探測器陣列。每條電子束在樣品的一個位置執(zhí)行同步掃描程序,以此獲得單個拼片圖像。電子束呈六邊形排列。通過合并所有圖像拼片生成整幅圖像。
并行計算機設(shè)置程序用于快速記錄數(shù)據(jù),以提高整體成像速度。圖像采集和工作流程控制在 MultiSEM 顯微鏡中*獨立。
大容量的串行陣列斷層掃描采集
用圖形化的控制中心設(shè)置整個實驗。高效的自動切片檢測可以識別和標注感興趣區(qū)域,節(jié)省大量時間。
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