冷熱沖擊試驗箱 快速溫變試驗機 廠家直供
東莞勤卓環(huán)測科技是國內(nèi)的冷熱沖擊試驗箱生產(chǎn)企業(yè),長期有各種型號的冷熱沖擊試驗箱現(xiàn)貨供應,為國內(nèi)廠家提供專業(yè)相關試驗設備,
一、冷熱沖擊試驗箱用途:
冷熱沖擊試驗箱-適用于國防工業(yè),航空工業(yè)、兵工業(yè)、自動化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑 膠、化工業(yè)、食品業(yè)、 BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁制藥工業(yè)及相關產(chǎn)品等設備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗(沖擊),適應于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害,可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組無一不需要它的理想測試工具.
二、冷熱沖擊試驗箱特性:
◆ 產(chǎn)品外形美觀、結(jié)構合理、工藝、選材考究,具有簡單便利的操作性能和可靠的設備性能。
◆ 設備分為高溫箱低溫箱測試箱三部分,采之斷熱結(jié)構及蓄熱蓄冷效果,試驗時待測物靜止,
應用冷熱風路切換方式將冷,熱溫度導入測試區(qū)實現(xiàn)冷熱沖擊測試目的。
◆ 采用采用的計測裝置, 控制器采用大型彩色液晶人機觸控對話式LCD人機接口控制器,操作簡
單, 學習容易, 穩(wěn)定可靠,中、英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設定程序曲線。
◆ 具96個試驗規(guī)范獨立設定,沖擊時間999小時59分鐘, 循環(huán)周期1~999次可設定, 可實現(xiàn)制冷機自動運
轉(zhuǎn),大程度上實現(xiàn)自動化,減輕操作人員工作量,可在任意時間自動啟動﹑停止工作運行;
◆ 箱體左側(cè)具一直徑50mm之測試孔,可供外加電源負載配線測試部件。
◆ 可獨立設定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能,并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時,可選擇三槽式及冷
沖、熱沖進沖擊之功能,具備高低溫試驗機的功能。
◆ 具備全自動,高精密系統(tǒng)回路、任一機件動作,有P.L.C鎖定處理,全部采用P.I.D自動演算控制,
溫度控制精度高
◆ 科學的空氣流通循環(huán)設計,使室內(nèi)溫度均勻,避免任何死角完備的安全保護裝置,避免了任何可
能發(fā)生安全隱患,保證設備的長期可靠性。
◆ 可設定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動(手動) 除霜.
◆ 出風口于回風口感知器檢測控制,風門機構切換時間為5秒內(nèi)完成,冷熱沖擊溫度恢復時間為5分鐘
內(nèi)完成。
◆ 運轉(zhuǎn)中狀態(tài)顯示及曲線顯示發(fā)生異常狀況時,螢幕上即刻自動顯示故障點及原因和提供排除故障的方
法。
◆ 冷凍系統(tǒng)采用復迭高效低溫回路系統(tǒng)設計,冷凍機組采用歐美壓縮機,并采用對臭氧系數(shù)為
零的綠色環(huán)保 HFC)制冷劑R404A,R23.
三、冷熱沖擊試驗箱技術參數(shù):
1、 溫度范圍:-20℃/-40℃/-55℃/-65℃~+150℃
2、 溫度上限:+170℃
3、 溫度下限:-70℃
4、 溫度偏差:&plsmn;2℃
5、 溫度波動度:&plsmn;0.5℃
6、 溫度恢復時間:5min
7、 溫度恢復條件:高溫+150℃保溫≥30min低溫-40℃保溫≥30min.
8、 試品轉(zhuǎn)移方式:采用氣動
9、試品重量:≤3kg
10、高溫室升溫時間:30min (+25℃~+170℃)
11、低溫室降溫時間:65min (+25℃~-55℃)
12、噪音:(dB)≤65
13、電源:AC380V&plsmn;10%/50/60Hz+保護接地
14、總功率:13KW
四、冷熱沖擊試驗箱型號及內(nèi)箱尺寸(W寬XH高X深D)
50L 內(nèi)箱尺寸:寬350*高400*深400mm 內(nèi)箱尺寸:寬1550*高1760*深1340mm
80L 內(nèi)箱尺寸:寬500*高400*深400mm 內(nèi)箱尺寸:寬1700*高1810*深1340mm
150L內(nèi)箱尺寸:寬600*高500*深500mm 內(nèi)箱尺寸:寬1800*高1810*深1440mm
五、冷熱沖擊試驗箱滿足標準:
1. GB10589-89 低溫試驗箱技術條件
2. GB11158-89 高溫試驗箱技術條件
3. GB10592-89 高低溫試驗箱技術條件
4. GB2423.1 低溫試驗、試驗A
5. GB2423.2 高溫試驗、試驗B
6. GB2423.22 溫度變化試驗、試驗N
7. IEC68-2-14 試驗N
8. 標GJB150.3-86
9. 標GJB150.4-86
10.GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法
11.GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方
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