BX-G104針對光伏太陽能電池研發(fā)和質量控制領域推出的專用型多入射角激光橢偏儀。 BX-G104用于測量絨面單晶硅或多晶硅太陽電池表面減反膜鍍層的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可測量光滑平面材料上的單層或多層納米薄膜的膜層厚度，以及在632.8nm下折射率n和消光系數k。BX-G104融合多項量拓科技技術，采用單多晶一體化樣品臺技術，兼容測量單晶和多晶太陽電池樣品，并實現(xiàn)......

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激光測量儀橢偏儀設備橢偏儀

產品用途：

BX-G104針對光伏太陽能電池研發(fā)和質量控制領域推出的專用型多入射角激光橢偏儀。BX-G104用于測量絨面單晶硅或多晶硅太陽電池表面減反膜鍍層的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可測量光滑平面材料上的單層或多層納米薄膜的膜層厚度，以及在632.8nm下折射率n和消光系數k。BX-G104融合多項量拓科技技術，采用單多晶一體化樣品臺技術，兼容測量單晶和多晶太陽電池樣品，并實現(xiàn)二者的瞬間輕松轉換。一鍵式多線程操作軟件，使得儀器操作簡單安全。

儀器特點：

l 測量方法：Delta測量范圍0-360o，無測量死角問題（即使在0o或180o附近時也具有的準確度），也可消除粗糙表面引起的消偏振效應對結果的影響

l 粗糙絨面納米薄膜的高靈敏測量：新穎的光能量增強技術、低噪聲的探測器件以及高信噪比的微弱信號處理方法，實現(xiàn)了對粗糙表面散射為主和較低反射率為特征的絨面太陽電池表面鍍層的高靈敏檢測

l 原子層量級的靈敏度和準確度：新穎的采樣方法、高穩(wěn)定的核心器件、高質量的制造工藝實現(xiàn)并保證了的準確度和穩(wěn)定性

l 百毫秒量級的快速測量：在保證精度和準確度的同時，可在幾百毫秒內快速完成一次測量，可滿足快速多點檢測和批量檢測需求

l 單多晶測量快速轉換：瞬間完成單晶多晶樣品臺的轉換，方便多種不同樣品頻繁更換的質量檢測現(xiàn)場

l 簡單方便的儀器操作：一鍵操作即可完成復雜的樣品測量和分析；按照質控要求進行數據多種導出；豐富的模型庫和材料庫方便用戶的操作；管理員/操作員不同的模式，保證儀器安全

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