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UVISEL Plus橢偏儀

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更新時間：2023-01-08 12:39:13瀏覽次數(shù)：500次

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上海尤譜光電科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

基于25年經(jīng)驗，UVISELPlus相位調(diào)制橢偏儀提供純正有效的偏振調(diào)制，可用于各種樣品的精確測量，的FastAcqTM快速采集技術(shù)使得測試靈敏度提高至原有的2倍，從而能獲得界面薄膜和納米級低襯度襯底樣品的更多信息

詳細介紹

基于25年經(jīng)驗，UVISEL Plus相位調(diào)制橢偏儀提供純正有效的偏振調(diào)制，可用于各種樣品的精確測量，的FastAcq^TM快速采集技術(shù)使得測試靈敏度提高至原有的2倍，從而能獲得界面薄膜和納米級低襯度襯底樣品的更多信息。可在3分鐘以內(nèi)實現(xiàn)高分辨的樣品測試（190-2100nm），校準僅需幾分鐘。模塊化設(shè)計，可靈敏拓展，具有更好的可升級性能。UVISEL Plus是一款高準確性、高靈敏度、高穩(wěn)定性的經(jīng)典橢偏機型。

主要特點

* 50kHz 高頻PEM 相調(diào)制技術(shù)，測量光路中無運動部件

* 具備超薄膜所需的測量精度，超厚膜所需的高光譜分辨率

* 具有毫秒級超快動態(tài)采集模式，可用于在線實時監(jiān)測

* 自動平臺樣品掃描成像、變溫臺、電化學反應(yīng)池、液體池、密封池等多種附件

* 配置靈活

規(guī)格參數(shù)

調(diào)制方式	相位調(diào)制+斬波器雙調(diào)制
調(diào)制頻率	50kHz
光譜范圍	190-920nm（可擴展到2100nm） * UVISEL NIR (250 nm -2100 nm ) * UVISEL VIS (210 nm -880 nm ) * UVISEL FUV(190 nm -880 nm ) * UVISEL VUV(142 nm -880 nm )
光譜分辨率	<>
雜散光抑制率	<>
色散公式	≥ 31個
材料模型庫	≥ 300個
微光斑類型	反射式，全光譜消色差
微光斑可選	50μm，100μm，1mm（90度）
探測器	分別針對紫外，可見和近紅外提供優(yōu)化的PMT和IGA探測器
樣品臺	手動/自動，支持12英寸晶圓（可選）
自動量角器	變角范圍35° - 90°，全自動調(diào)整，最小步長0.01°