DDR3*8一拖八內(nèi)存條測試治具

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更新時間：2023-05-30 17:34:32瀏覽次數(shù)：229次

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深圳市鴻怡電子有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：8條

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產(chǎn)品簡介

集成電路應用功能驗證測試可根據(jù)用戶要求定做各種陣列的socket

詳細介紹

產(chǎn)品特點及性能參數(shù)：
◆產(chǎn)品全新設計，相比以前更薄，預留插槽卡位，不需轉接槽可直接插到測試板上進行測試，把頻率衰減降到，減少誤測；
◆產(chǎn)品打開方向背離金手指方向。更適合人性化操作，同時不會和卡槽位發(fā)生干涉。
◆產(chǎn)品通用性高，只需換顆粒限位框，即可測試尺寸不同的顆粒（寬度<13MM 長度<14MM）；
◆有球無球均可測試，顆粒壓板通過使用高精度自適應彈簧保證每個IC平衡下壓；
◆采用手動翻蓋滾軸式結構，操作省力方便，相比同類產(chǎn)品減少磨損，達到更高的使用壽命；
◆內(nèi)存顆粒測試PCB經(jīng)過高精度的CNC二次加工，從而保證了與合金件的定位精確，達到更優(yōu)化的測試精度，同時金手指和IC焊盤的鍍金厚度是普通的PCB的十數(shù)倍，保證測試治具具有更好的導通和耐磨性，相比同類產(chǎn)品具有更好的超頻性能及使用壽命。
◆的針板設計，采用開模標件，能夠獨立更換,同時利用定位銷與合金件精確定位，客戶可進行備件，方便更換，維修簡便，為生產(chǎn)節(jié)約寶貴時間。

◆采用超短進口雙頭探針設計，相比同類測試產(chǎn)品使IC與PCB之間數(shù)據(jù)傳輸距離更短，從而使測試更穩(wěn)定，頻率更高，DDR3系列頻率可達2000MHZ；見附表

SDR和DDFR對照表

◆高精度合金IC定位框，保證IC定位精確，取放IC方便，從而提高測試效率；
◆測試壽命長，有效測試10萬次以上；（視使用環(huán)境及相關操作而定）
◆內(nèi)存顆粒測試治具測試規(guī)格：DDR2X8 DDR3X8一次性可測試8顆內(nèi)存顆粒；
◆單顆內(nèi)存IC也是采用開模針板制作，如有損壞客戶可自行更換，維修簡便，為生產(chǎn)爭取寶貴時間。同時可定制服務器主控IC測試治具。
◆可以免費提供相關的技術支持。
產(chǎn)品服務：
※ 該產(chǎn)品用戶可自行維修，本公司按成本價提供相關配件；
※ 保修期內(nèi)，免費維修（人為損壞、燒壞除外），如果需換件，只收材料成本費。