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北京貝士德分析儀器研究院
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北京貝士德分析儀器研究院
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)3H-2000PS4
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地
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更新時(shí)間：2022-11-10 15:09:40瀏覽次數(shù)：231次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 環(huán)保在線簡(jiǎn)介內(nèi)容：3H-2000PS4型比表面及孔徑分析儀，具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：，微孔：、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
吸附、脫附等溫線測(cè)定； BET比表面測(cè)定(單點(diǎn)/多點(diǎn)法)；
朗格繆爾(Langmuir)比表面； 統(tǒng)計(jì)吸附層厚度法外比表面；
BJH法孔容孔徑分布； MK-plate法(平行板模型)孔容孔徑分布；
D-R法微孔分析； t-plot法(Boder)微孔分析；
H-K法(Original)微孔分析； MP法(Brunauer) 微孔分析；
真密度測(cè)試； 粒度估算報(bào)告。
測(cè)試范圍：
比表面積：0.0005m2/g至無上限。
總孔體積：0.0001cc/g至無上限。
孔徑：0.35-500 nm(微孔常規(guī)分析: 0. 35-2nm; 介孔分析: 2nm-50nm; 大孔分析: 50nm-500nm)。
測(cè)量精度：
比表面積重復(fù)精度≤± 1.0%，*可幾孔徑重復(fù)偏差≤0.02nm，真密度 ≤±0.04%；外表面積≤± 1.5%。
樣品類型：粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
分析站：
4個(gè)分析站，1個(gè)P0站，4個(gè)處理站；
測(cè)試4個(gè)樣品和4個(gè)樣品的脫氣處理，并且樣品的測(cè)試過程和脫氣處理可同時(shí)進(jìn)行；測(cè)試系統(tǒng)和脫氣系統(tǒng)相互獨(dú)立。
獨(dú)立P0：具有獨(dú)立的飽和蒸汽壓(P0)測(cè)試站，保證分壓測(cè)試的高準(zhǔn)確性。
測(cè)試系統(tǒng)：根據(jù)國(guó)標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)“氮?dú)?氦氣”測(cè)試模式，利用氦氣測(cè)試溫區(qū)體積，使測(cè)試精度更高，重復(fù)性更好。
預(yù)處理：
4路脫氣站，脫氣過程由軟件自動(dòng)控制，具有獨(dú)立控溫、獨(dú)立定時(shí)以及真空泵啟停等功能?？芍С峙c測(cè)試同步進(jìn)行的不同溫度與不同時(shí)間的樣品脫氣處理；還具備預(yù)處理起止時(shí)間的預(yù)設(shè)功能，實(shí)現(xiàn)無人值守測(cè)試和樣品處理，大大提高工作效率。具有“普通加熱抽真空分子擴(kuò)散模式”和“分子置換模式”兩種可選功能；分子置換模式相對(duì)分子擴(kuò)散模式效率提高1倍以上，可節(jié)省一半以上的預(yù)處理時(shí)間，解決以往靜態(tài)法樣品制備時(shí)間長(zhǎng)的問題。
標(biāo)簽：介孔材料 比表面積 孔徑
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