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上海昊量光電設(shè)備有限公司
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更新時間：2024-02-13 15:34:11瀏覽次數(shù)：126次
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不規(guī)則非球面光學(xué)元件應(yīng)力分布測量系統(tǒng)（透鏡測量等）不規(guī)則非球面光學(xué)元件（光刻機(jī)透鏡等）應(yīng)力分布測量系統(tǒng)利用調(diào)制器技術(shù)，公司的測量系統(tǒng)可以在深紫外（193nm）波段進(jìn)行應(yīng)力雙折射探測
不規(guī)則非球面光學(xué)元件應(yīng)力分布測量系統(tǒng)
（透鏡測量等）
不規(guī)則非球面光學(xué)元件（光刻機(jī)透鏡等）應(yīng)力分布測量系統(tǒng)
利用調(diào)制器技術(shù)， 公司的測量系統(tǒng)可以在深紫外（193nm）波段進(jìn)行應(yīng)力雙折射探測。針對特定材料制作（氟化鈣）和特定形狀（非球面透鏡）有著的技術(shù)解決方案。
應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)，非球面透鏡應(yīng)力雙折射測量，應(yīng)力，應(yīng)力橢偏測量
Hinds 公司的不規(guī)則非球面光學(xué)元件應(yīng)力分布測量系統(tǒng)（應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)）通過對光的調(diào)制解調(diào)可以測出待測光學(xué)元件中的雙折射大小和方向，這些數(shù)據(jù)同時也表示了應(yīng)力的大小和方向。Hinds 公司這套不規(guī)則非球面光學(xué)元件應(yīng)力分布測量系統(tǒng)的傾斜，多角度入射掃描技術(shù)可以保證對非球面不規(guī)則的光學(xué)元件（光刻機(jī)透鏡等）有著的掃描測量解決方案。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
1. 全套內(nèi)置軟件自動掃描成圖
2. 非球面掃描（手動宏程序）
3. 應(yīng)力大小及方向分布探測成圖
4. 定制各種尺寸形狀樣品臺
5. 探測強(qiáng)度：皮瓦
產(chǎn)品參數(shù)：
1. 可見光波段探測延遲范圍：0 to 300+nm
2. 深紫外波段探測延遲范圍：0 to 90+nm
3. 可見光波段應(yīng)力探測精度：0.001nm / ±0.03 (up to 3nm, 1% thereafter)
4. 深紫外波段應(yīng)力探測精度：0.001nm / ± 0.08 nm (up to 4nm, 2% thereafter)
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