高溫四探針電阻率測(cè)試儀可以測(cè)量硅、鍺單晶電阻率和硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量導(dǎo)電玻璃和其他導(dǎo)電薄膜的方塊電阻,主要用于半導(dǎo)體薄膜和薄片的導(dǎo)電性能,高溫四探針電阻率測(cè)試儀就是,主要測(cè)量的參數(shù)就是半導(dǎo)體材料的電阻、電阻率、方塊電阻等。
四探針電阻率測(cè)試儀,四探針法是一種簡(jiǎn)便的測(cè)量電阻率的方法。四探針法測(cè)量電阻率有個(gè)非常大的優(yōu)點(diǎn),它不需要較準(zhǔn);有時(shí)用其它方法測(cè)量電阻率時(shí)還用四探針法較準(zhǔn)。

四探針電阻率測(cè)試儀注意事項(xiàng):
1、儀器操作前請(qǐng)您仔細(xì)閱讀使用說明書,規(guī)范操作;
2、輕拿輕放,避免儀器震動(dòng),水平放置,垂直測(cè)量;
3、儀器不使用時(shí)請(qǐng)切斷電源,連接線無需經(jīng)常拔下,避免灰塵進(jìn)入航空插引起短接等現(xiàn)象;
4、探針筆測(cè)試結(jié)束,套好護(hù)套,避免人為斷針。

四探針電阻測(cè)試儀由主機(jī)、選配的四探針探頭和測(cè)試臺(tái)等三部分組成。
主機(jī)主要由數(shù)控恒流源,高分辨率 ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成。自動(dòng)/手動(dòng)量程可選;電阻率、方阻、電阻測(cè)試類別快捷切換:儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入,簡(jiǎn)便可靠;具有零位、滿度自校功能;測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。

四探針電阻率測(cè)試儀測(cè)試四探針筆方法:
一般情況下,更換鋼針之類,不需要拆開探頭,只需要用拔出要更換的鋼針,再重新安裝新針,如果斷針在孔內(nèi)并且不拆開難以取出,必須按照以下步驟進(jìn)行操作:
1、先松開筆身尾部端側(cè)面的固定小螺絲,輕輕脫下尾部航空插口,保證探針頭部旋轉(zhuǎn)時(shí)同步旋轉(zhuǎn),防止扭線斷線,短接;
2、輕輕擰開探針頭子,然后小心將銅片拉出,記住七片絕緣片與銅片之間的位置,(四片銅片每片間夾一片絕緣片,兩邊的銅片外側(cè)各兩片),將斷針從銅片卡口座里取下即可;
3、特別注意一定不能將銅片取下時(shí)的位置錯(cuò)亂,銅片位置按照航空頭四芯1234接線綠紅黃黑的順序一字排列,并且銅片之間按照寬窄順序互相交叉排列,以免短接;
4、安裝時(shí)銅片及絕緣片按照拆下時(shí)的排列輕輕塞進(jìn)探針頭子,并先將探針頭子擰緊,再將尾部航空頭插上,并且旋緊小螺絲;
5、將針裝好,注意針頭針尾方向,尖頭為探針頭部。
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