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更新時(shí)間：2025-02-28 11:58:52瀏覽次數(shù)：124次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 環(huán)保在線瑞士CSM納米壓痕測(cè)試儀(NHT2)
瑞士CSM 納米壓痕測(cè)試儀(NHT2)
符合 ISO 與 ASTM 國際標(biāo)準(zhǔn)
儀器簡(jiǎn)介：
CSM NHT2 （NHT第二代）納米壓痕測(cè)試儀采用了UNHT（CSM超納米壓痕儀）的技術(shù)，其靈敏度及噪音水平和穩(wěn)定性得以顯著提高。采用的top reference（表面參比測(cè)試技術(shù)）設(shè)計(jì), NHT2 納米壓痕儀將熱漂移效應(yīng)（thermal drift）降低到了0.02nm/s的水平?？蛻舨恍枰浖M近似扣除即可獲得可靠、穩(wěn)定的數(shù)據(jù)，也不需要長(zhǎng)期甚至隔夜的穩(wěn)定時(shí)間，對(duì)實(shí)驗(yàn)室的環(huán)境要求大為降低。
儀器應(yīng)用：
NHT2 納米壓痕儀主要用于測(cè)量納米尺度的硬度與彈性模量，可以用于研究或測(cè)試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應(yīng)力-應(yīng)變曲線、疲勞、存儲(chǔ)模量及損耗模量等特性。可適用于有機(jī)或無機(jī)、軟質(zhì)或硬質(zhì)材料的檢測(cè)分析，包括PVD、CVD、PECVD薄膜，感光薄膜，彩繪釉漆，光學(xué)薄膜，微電子鍍膜，保護(hù)性薄膜，裝飾性薄膜等等?；w可以為軟質(zhì)或硬質(zhì)材料，包括金屬、合金、半導(dǎo)體、玻璃、礦物和有機(jī)材料等。
主要特點(diǎn)：
的參比環(huán)設(shè)計(jì)-實(shí)時(shí)消除大部分熱漂移
帶有反饋系統(tǒng)的載荷加載系統(tǒng)
靈活的試樣夾具可夾持各種尺寸試樣（無需用膠粘結(jié)試樣）
高質(zhì)量金相顯微鏡觀測(cè)系統(tǒng)
計(jì)算機(jī)軟件包，自動(dòng)進(jìn)行數(shù)據(jù)獲取、儲(chǔ)存、分析等
豐富、靈活的擴(kuò)展空間
技術(shù)參數(shù)：
載荷范圍：0-500mN
載荷分辨率：40nN
壓入深度：200um
位移分辨率： 0.004nm
選件：
其它力學(xué)測(cè)試模塊（如微納米劃痕、超納米壓痕等）
真空及環(huán)境(溫度、濕度）控制
原子力顯微鏡成像系統(tǒng)
環(huán)境隔離罩
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