電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀
Avio™ 200 系統(tǒng)能處理難度的、未經(jīng)稀釋的高基體樣品，為ICP 帶來全新的性能及靈活性。
而且，特別的硬件特性與業(yè)界最直觀易用的軟件相結(jié)合，使多元素測量變得與單元素分析一樣簡單。
作為市場上最小巧的 ICP，Avio 200 可通過以下性能，提供高效的操作、可靠的數(shù)據(jù)和較低的擁有成本：
性能可靠、功能強大、經(jīng)濟實惠、Avio 200 具備您所尋求的 ICP所具有的一切。
較低的運行成本
借助獲得 Flat Plate™ (平板) 等離子體技術(shù)，Avio 僅需消耗其他系統(tǒng)一半的氬氣量，即可生成強健、耐基體的等離子體，同時賦予您：
另外，為了提高效率，可令您從關(guān)機狀態(tài)啟動，在短短幾分鐘內(nèi)即可進行分析，因而您大可在儀器不使用時隨意關(guān)掉。
強大的雙向觀測功能
與提供軸向和徑向觀測而犧牲性能的同步垂直雙向觀測 ICP 系統(tǒng)不同，Avio 200 系統(tǒng)獲得雙向觀測功能，可測量所有波長，不會造成光或靈敏度的損失。即使是波長大于 500 納米或低
于 200 納米的元素也可以測量，即便是在 ppb 的含量水平。該 Avio 系統(tǒng)特別的雙向觀測設(shè)計也提供了可擴展的線性動態(tài)范圍，確保實現(xiàn)：
集成等離子體觀測相機
可簡化您的開發(fā)方法，同時借助 Avio 200 系統(tǒng)的 PlasmaCam™技術(shù)，盡享遠程監(jiān)控等離子體的便利。
可幫助您：
實時觀測等離子體
執(zhí)行遠程診斷
查看進樣部件
革新性 PlasmaShear 系統(tǒng)，可實現(xiàn)無氬干擾消除
為了消除軸向觀測的干擾，需要消除等離子體的冷尾焰。沒有其他同類儀器能比 Avio 200 更有效、更可靠或更經(jīng)濟。
其他 ICP 消除尾焰需要消耗高達 4 升/分鐘的氬氣流量，Avio系統(tǒng)特別的 PlasmaShear™ 技術(shù)只需空氣即可。無需高維護、高提取系統(tǒng)或錐體。
CCD 檢測器，可實現(xiàn)準(zhǔn)確度和精密度
借助全波長功能，Avio 200 系統(tǒng)的強大電荷耦合器件（CCD）檢測器能不斷提供正確的答案。
Avio 系統(tǒng)的 CCD 檢測器可同時測量所選譜線及其譜線附近波長范圍，實時扣背景，實現(xiàn)出色的檢測精密度。在分析過程中，它還可以同時執(zhí)行背景校正測量，進一步提高準(zhǔn)確度和靈敏度。
帶有快速轉(zhuǎn)換炬管底座的垂直等離子體，可實現(xiàn)基體靈活性
即使 ICP 正在運行，Avio 200 系統(tǒng)的垂直炬管無需工具也能進行簡便快捷的調(diào)節(jié)，可提供更大的樣品靈活性并簡化維護。炬管底座的設(shè)計與眾不同，具有以下特點：
電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀
