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掃描電子顯微鏡 SU3800/SU3900

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更新時間:2023-12-10 12:01:45瀏覽次數:173次

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產品簡介

特徴①SU3900標配多功能超大樣品倉

詳細介紹

特徴

①SU3900標配多功能超大樣品倉,可應對大型樣品的觀察

■樣品臺可搭載超大/超重樣品

  • 通過更換樣品提示,可防止由于與樣品的接觸而損壞設備或樣品
  • 選配樣品交換倉,可在主樣品倉保持真空的狀態(tài)下快速更換樣品,大大提高了工作效率
  • 具備樣品臺移動限制解除功能,提高了自由度*
  • 紅外CCD探測器,提高了樣品臺移動的安全性

■支持全視野移動。SEM MAP支持超大樣品的全視野觀察

  • 與GUI聯(lián)合,可配備樣品倉室導航相機
  • 覆蓋整個可觀察區(qū)域
  • 支持360度旋轉
















②隨著各種自動化功能的強化,操作性能得到了進一步優(yōu)化。

■一個鼠標就能夠輕松操作的簡約GUI

■各種自動化功能

  • 自動調整算法經改良后,等待時間減少至以往的1/3以下(※S-3700N比例)
  • 提高了自動聚焦精度
  • 搭載Intelligent Filament Technology(IFT)

■Multi Zigzag,可實現(xiàn)多區(qū)域的大視野觀察

■Report Creator,可利用獲得的數據批量生成數據報告













③可提供滿足測試需求的應用解決方案


■可滿足多種觀察需求的探測器

  • 搭載高靈敏度UVD*,支持CL觀察
  • 高靈敏度半導體式背散射電子探測器,切換成分/凹凸等多種圖像

■配備了多功能超大樣品倉,可以搭載多種配件

>■SEM/EDS一體化功能*

■三維顯示測量軟件 Hitachi Map 3D*

■支持圖像測量軟件Image pro

*配件


①標配多功能超大樣品倉,支持大型樣品分析

■樣品臺可搭載超大/超重樣品














  • 通過更換樣品提示,可防止由于與樣品的接觸而損壞設備或樣品
    GUI上顯示更換樣品的操作步驟??梢员苊庖蛉藶榈恼`操作而導致樣品污染或損壞。即使是難以檢測高度的凹凸不平的樣品或者是超大樣品,也能夠輕松更換。
  • 樣品交換倉*
    選配樣品交換倉,可在主樣品倉保持真空的狀態(tài)下快速更換樣品,大大提高了工作效率
  • 具備樣品臺移動限制解除功能,提高了自由度*
    SU3800 / SU3900配置了樣品臺自由模式,開放了樣品臺移動的自由度。操作人員可自行判斷,自由移動樣品臺。 
    ※選擇樣品臺自由模式時,請同時選配紅外CCD探測器。
  • 紅外CCD探測器*,提高了樣品臺移動的安全性
    紅外CCD探測器是用于監(jiān)控樣品倉內部的裝置。通過使用紅外線攝像機,可以在觀察SEM圖像的同時監(jiān)視樣品倉內部情況。為了獲得更詳細的位置,放大CCD圖像,并且移動觀察位置。

*配件

■支持全視野移動,SEM MAP支持超大樣品的全視野觀察

  • 與GUI聯(lián)合,可配備樣品倉室導航相機
    與GUI聯(lián)合的SEM MAP,正是因為采用了樣品倉室導航相機,才得以實現(xiàn)廣角相機導航功能*。在SEM MAP上觀察目標位置,可以順利地移動到任意位置上。使用大視野相機導航系統(tǒng)拍攝的圖像或外部圖像,通過自由放大或縮小圖像,可以將大視野的彩色圖像切換到高倍率的SEM圖像。 
    *配件
  • 覆蓋整個可觀察區(qū)域
    相機導航系統(tǒng)通過圖像拼接功能可以實現(xiàn)大視野的SEM MAP觀察。觀察區(qū)域為直徑130mm(SU3800)/ 直徑200mm(SU3900),并且可以與樣品臺R一起聯(lián)動,移動到大型樣品的觀察區(qū)域。
  • 支持360度旋轉
    SEM MAP操作界面可直觀的顯示樣品與探測器的位置關系,因此在觀察高度差大的樣品時,可根據需求旋轉樣品臺或電子束來獲得的觀察分析位置,避免陰影效應造成的影響。


    ②隨著各種自動化功能的強化,操作性能得到了進一步優(yōu)化。

    ■一個鼠標就能夠輕松操作的簡約GUI

    搭載了簡約UI,簡單操作,如同觸屏般直觀。

    • 從移動樣品臺到樣品觀察,輕輕點擊鼠標即可實現(xiàn)
    • 也可觸屏操作
    • 主窗口為1280x960像素的大窗口
    • 可以切換顯示模式,并且同時顯示/拍攝兩種不同的信號

    ■各種自動化功能

    • 自動調整算法經改良后,等待時間減少至以往的1/3以下(※S-3700N比例)
      樣品安裝完成后,通過自動光路調整及各種自動功能調整圖像,隨后可立即獲得樣品圖像。高度自動化功能采用全新設計的演算程序,在執(zhí)行圖像自動調整功能時,等待時間縮短到以往的1/ 3以下。
    • 采用了新的算法,提高了自動聚焦精度
       全新升級的自動聚焦調整功能,即使是以往難以調整的光滑樣品,也能夠輕松得到良好的圖像。
    • 搭載Intelligent Filament Technology(IFT)
      自動監(jiān)視燈絲的狀態(tài),自動控制使其一直處于性能的狀態(tài)。 
      搭載顯示燈絲更換時間的顯示屏。 
      通過該功能,使得原來難以對應的長時間連續(xù)觀察以及數據分析等大范圍分析均可以安心實現(xiàn)。

    ■Multi Zigzag*,可實現(xiàn)多區(qū)域的大視野觀察

    Multi Zigzag可以自動獲取連續(xù)的視野??梢栽诓煌囊曇爸信臄z多張高倍率圖像,并使用Viewer功能拼接拍攝的圖像,創(chuàng)建大視野圖像。

    *配件

    • Report Creator,可利用獲得的數據批量生成數據報告
      在Report Creator中,可以將SEM圖像,EDS數據和CCD相機圖像等采集的圖像統(tǒng)一整合,生成報告。創(chuàng)建的報告可保存為Microsoft Office®格式。保存的文件可通過Microsoft Office®進行編輯。

    ③可提供滿足測試需求的應用解決方案

    ■可滿足多種觀察需求的探測器

    • 搭載高靈敏度UVD*,支持CL觀察
      SU3800 / SU3900配備了高靈敏度低真空探測器UVD。除了樣品表面的凹凸圖像之外,還可以通過檢測電子束照射樣品而產生的陰極熒光,來獲取CL信息。
    • 高靈敏度半導體式背散射電子探測器,切換成分/凹凸等多種圖像。

    通過采用4分割+1單元的設計,對每個單元進行計算,無需傾斜樣品,即可獲得成分圖像、3D圖像以及4方向凹凸圖像。由于探測器的設計十分精巧,且靈敏度高,實現(xiàn)了高分辨率和高信噪比。

    ■配備了多功能超大樣品倉,可以搭載多種配件

      SU3900標配多功能超大樣品倉,可應對大型樣品的觀察。

    ■SEM/EDS一體化功能*

    SU3800/SU3900全新研發(fā)的SEM/EDS一體化功能,通過SEM操作界面即可完成測試位置確定、條件設置、樣品分析以及生成報告等一系列操作。通過SEM的全面控制,可以提高測試效率,減輕了操作人員的負擔。

    ■三維顯示測量軟件 Hitachi Map 3D*

    Hitachi Map 3D可對SU3800/SU3900的5分割背散射電子探測器當中的4個不同方向的SEM信號進行演算分析,生成三維圖像。支持2點間高度、體積和簡易表面粗糙度(面粗糙度、線粗糙度)測量??梢淮涡越邮账膫€不同方向的信號,因此,無需傾斜樣品臺或合成圖像。

    ■支持圖像測量軟件Image pro

    SU3800 / SU3900搭載了IPI,可以將SEM圖像傳輸到由美國Media Cybernetics公司開發(fā)的圖像處理軟件Image Pro。只需單擊一下,即可將數據從SEM傳輸到圖像測量軟件。





ITEM SU3800 SU3900
二級電子分解能 3.0nm(加速電壓30kV、WD=5mm、高真空模式)
15.0nm(加速電壓1kV、WD=5mm、高真空模式)
背散射電子分解能 4.0nm(加速電壓30kV、WD=5mm、低真空模式)
倍率 ×5~×300,000(照片倍率*1)
×7~×800,000(實際顯示倍率*2)
加速電壓 0.3kV~30kV
低真空度設定 6~650 Pa
圖像位移 ±50µm(WD=10mm)
樣品尺寸 200mm直徑 300mm直徑
樣品臺 X 0~100mm 0~150mm
Y 0~50mm 0~150mm
Z 5~65mm 5~85mm
R 360°連續(xù)
T -20°~+90°
可觀察范圍 130mm直徑(R并用) 200mm直徑(R并用)
可觀察高度 80mm(WD=10mm) 130mm(WD=10mm)
電機驅動 5軸電機驅動
電子光學系統(tǒng) 電子槍 中心操控式鎢絲發(fā)射
物像鏡頭光圈 4孔可動光圈
檢測系統(tǒng) 二級電子檢測器、高靈敏半導體背散射電子檢測器
EDX分析WD WD=10mm(T.O.A=35°)
圖像顯示 自動光軸調整功能 自動光束調整(AFS→ABA→AFC→ABCC)
自動光軸調整(實時級別對齊)
自動調整光束亮度
自動圖像調整功能 自動亮度和對比度控制(ABCC)
自動對焦控制(AFC)
自動標記和焦點功能(ASF)
自動燈絲飽和度調整(AFS)
自動光束對準(ABA)
自動啟動(HV-ON→ABCC→AFC)
操作輔助功能 光機旋轉、動態(tài)聚焦、圖像質量改善功能、數據輸入(點對點測量、角度測量、文本)、預設放大、樣品臺位置導航功能(SEM MAP)、光束標記功能
配件 ■硬件:軌跡球、操縱桿、操作面板、壓縮機、高靈敏度操作低空探測器(UVD)、紅外CCD探測器、攝像機導航系統(tǒng)■軟件:SEM數據管理器外部通訊接口、3D捕獲、裝置臺移動限制解除功能、EDS集成
配件(外部裝置) 能量散射X射線分析儀(EDS)、波長色散X射線分析儀(WDS)、
各種外部功能臺(加熱臺、冷卻臺、牽引臺)

關鍵詞:壓縮機
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