高低溫濕熱試驗(yàn)箱
設(shè)備型號(hào) | HX/GDS-50 | HX/GDS-100 | HX/GDS-150 | HX/GDS-250 |
工作室尺寸(mm) | 320×350×450 | 400×500×500 | 500×600×500 | 520×630×780 |
設(shè)備型號(hào) | HX/GDS-500 | HXGDS-800 | HX/GDS-010 | HX/GDS-015 |
工作室尺寸(mm) | 700×800×900 | 800×1000×1000 | 1000×1000×1000 | 1000×1500×1000 |
本產(chǎn)品適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。
運(yùn)行方式 | 定值運(yùn)行 |
技 術(shù) 參 數(shù) | 溫度上限 | +100℃/+200℃ |
溫度下限 | 0℃、-20℃、-40℃、-60℃、-70℃ |
溫度波動(dòng)度 | ±0.5℃ |
溫度均勻度 | ≤±2.0℃(可根據(jù)用戶(hù)需求定制,到±0.1℃) |
溫度偏差 | ±2℃(可根據(jù)用戶(hù)需求定制,到±0.1℃) |
升溫時(shí)間 | 40min (室溫+10℃ ~100℃) (可根據(jù)用戶(hù)需求定制) |
濕度范圍 | 30~98%RH(可根據(jù)用戶(hù)需求定制,10~98%RH) |
濕度偏差 | +2/-3%RH |
降溫時(shí)間 | 25min(20℃~0℃)、40min(20℃~-20℃)60min(20℃~-40℃)、80min(20℃~-70℃)(可根據(jù)用戶(hù)需求定制) |
溫濕度控制器 | 日本進(jìn)口富士或RKC溫濕度控制器(韓國(guó)進(jìn)口泰敏880N系列) |
溫度傳感器 | Pt100鉑電阻 |
濕度傳感器 | Pt100鉑電阻干濕球 |
程序容量 |
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制冷 系統(tǒng) | 制冷機(jī)組 | 進(jìn)口全封閉法國(guó)泰康壓縮機(jī)組 |
制冷方式 | 單級(jí)壓縮制冷,二元復(fù)疊壓縮制冷 |
冷卻方式 | 風(fēng)冷 |
加熱器 | 鎳鉻合金電加熱器(已升級(jí)為加熱效率更高的瓷片式加熱器) |
加濕方式 | 鍋爐式蒸發(fā) |
加濕器 | 不銹鋼加熱管 |
除濕方式 | 低溫除濕 |
循環(huán)風(fēng)機(jī) | 軸流風(fēng)機(jī) |
安全保護(hù)措施 | 超溫、過(guò)載、超壓、漏電、斷水、短路、電源缺相、錯(cuò)相等保護(hù) |
材 料 | 外殼材料 | 冷軋鋼板靜電噴塑或根據(jù)用戶(hù)要求全不銹鋼 |
內(nèi)壁材料 | SUS304不銹鋼板 |
保溫材料 | 硬質(zhì)聚胺脂泡沫/超細(xì)玻璃棉 |
標(biāo)準(zhǔn)配置 | ¢50測(cè)試孔一個(gè),試品擱板二套,照明燈,鍍電加熱膜中空玻璃觀察窗 |
可選配件 | 記錄儀、通訊接口、打印機(jī)、遠(yuǎn)程監(jiān)控計(jì)算機(jī)及軟件 |
電源 | 380V±10%,50Hz,3P+N+G |
產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn) | GB10586:濕熱試驗(yàn)箱技術(shù), 條件 GB10592:高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 |
試驗(yàn)方法 | GB/T2423.1、GB/T2423.3、GB/T2423.9、GJB150.4 |
功率(Kw) | 3.0 | 4.5 | 5.0 | 5.5 |
6.0 | 7.5 | 8.0 | 10.5 |
一、產(chǎn)品特點(diǎn):
本產(chǎn)品采用進(jìn)口溫控儀進(jìn)行控溫控濕控制儀,可進(jìn)行多種參數(shù)的設(shè)定,溫濕度直接數(shù)字顯示,操作方便。
1、制冷系統(tǒng)采用進(jìn)口壓縮機(jī)。
2、電熱式蒸汽發(fā)生加濕方式。
3、飽和氣體加濕方式。
4、工作室用不銹鋼制作,外箱體冷軋鋼板靜電噴涂。
5、外箱體采用數(shù)控機(jī)床制作,確保精度及外形美觀。
6、各系統(tǒng)具有安全保護(hù)功能。
二、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
本產(chǎn)品符合GB10592.89、GB2423.22.87標(biāo)準(zhǔn)。HX/GDS-50L~1500L系列濕熱試驗(yàn)箱適用于工業(yè)產(chǎn)品恒定、濕熱的可靠性試驗(yàn)。性能指標(biāo)符合GB5170.18《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》的要求。