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冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡(SEM)

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產(chǎn)品簡介

儀器照片儀器名稱冷場發(fā)射環(huán)境掃描電子顯微鏡儀器型號Quanta400FEG生產(chǎn)廠家美國FEI儀器簡介QuantaFEG場發(fā)射環(huán)境掃描電子顯微鏡綜合場發(fā)射電鏡高分辨和ESEM環(huán)境掃描電鏡適合樣品多樣性的優(yōu)勢，可對各種各樣的樣品（包括導(dǎo)電樣品、不導(dǎo)電樣品、含水含油樣品、加熱樣品等等）進(jìn)行高分辨的靜態(tài)和動態(tài)觀察和分析

詳細(xì)介紹

儀器照片
儀器名稱	冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡
儀器型號	S 4800
生產(chǎn)廠家	日本Hitachi公司
技術(shù)參數(shù)	1) 高分辨率FE-SEM對下列材料進(jìn)行解析時(shí)具有一定的效果 2) 對電子材料表面形狀的高分辨率觀察(5nm以下) 3) 對高分子復(fù)合材料的低加速電壓低損傷觀察 4) 對納米材料表面／內(nèi)部結(jié)構(gòu)的相輔性觀察
適用領(lǐng)域	1) 廣泛地應(yīng)用于各種金屬材料和非金屬材料的檢驗(yàn)和研究 2) 在材料科學(xué)研究、金屬材料、化學(xué)材料、半導(dǎo)體材料、陶瓷材料等多個(gè)領(lǐng)域可以進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析，材料斷口分析和失效分析 3) 各種材料的形貌組織觀察；材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析 4) 快速的多元素面掃描和線掃描分布測量；晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量 5) 元素定量、定性成分分析 6) 晶體、晶粒的相鑒定
檢測案例
檢測案例
樣品要求	1) 請根據(jù)自己樣品的性質(zhì)及測試需求，自行查閱相關(guān)資料后，提供詳細(xì)的測試條件（電壓、電流、信號、放大倍數(shù)、標(biāo)尺、理想的照片等） 2) 樣品量不少于30mg。可以接受固體、粉末、薄膜或纖維樣品 3) 潮濕的樣品不能測試。有機(jī)的樣品需要具體溝通