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萊森光學(xué)(深圳)有限公司


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近場測試

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產(chǎn)品型號(hào)LS-NF-T100

品       牌

廠商性質(zhì)其他

所  在  地深圳市

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更新時(shí)間:2024-07-11 06:49:22瀏覽次數(shù):201次

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產(chǎn)品簡介

萊森光學(xué)®可以為客戶提供VCSELVCSEL-3D SENSING/TOF檢測解決方案:LIV光譜/功率積分測試、NF近場特性測試、FF遠(yuǎn)場特性測試、BRDF/BTDF光學(xué)材料AR/VR特性測試、VCSEL積分球,實(shí)現(xiàn)對(duì)VCSEL單體、模組、及晶圓芯片的能量分布和均勻性測量、光譜波長及功率測量、近場遠(yuǎn)場測量等各種定制化應(yīng)用需求。

詳細(xì)介紹

LS-NF-TF100近場測試

VCSEL(Vertical Cavity Surface Emitting Laser,垂直共振腔表面放射激光)技術(shù)目前在在人臉識(shí)別、3D感測、手勢偵測和VR(虛擬現(xiàn)實(shí))/AR(增強(qiáng)現(xiàn)實(shí))/MR(混合現(xiàn)實(shí)等應(yīng)用領(lǐng)域越來越受到關(guān)注,萊森光學(xué)®可以為客戶提供VCSELVCSEL-3D SENSING/TOF檢測解決方案:LIV光譜/功率積分測試、NF近場特性測試、FF遠(yuǎn)場特性測試、BRDF/BTDF光學(xué)材料AR/VR特性測試、VCSEL積分球,實(shí)現(xiàn)對(duì)VCSEL單體、模組、及晶圓芯片的能量分布和均勻性測量、光譜波長及功率測量、近場遠(yuǎn)場測量等各種定制化應(yīng)用需求。

近場測試技術(shù)特點(diǎn)

1.光譜范圍:400-1100nm

2.可測量光斑范圍45μm – 4 mm

3.大功率100mW (可加衰減片OD1 - OD5)

4.實(shí)時(shí)監(jiān)測DUT空間光傳輸強(qiáng)度分布和發(fā)散情況(光斑大小、發(fā)散角、功率密度和均勻性)

5.分光衰減系統(tǒng)(直接耦合成像鏡頭和光斑分析儀,一體化設(shè)計(jì))

 

 

 

 

 

關(guān)鍵詞:芯片
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