Film Sense FS-1™多波長(zhǎng)橢偏儀
Film Sense FS-1™多波長(zhǎng)橢偏儀采用壽命長(zhǎng) LED 光源和非移動(dòng) 式部件橢偏探測(cè)器,可在操作簡(jiǎn)單的緊湊型橢偏儀中實(shí)現(xiàn)快速和可靠地薄膜測(cè)量。大多數(shù)厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要簡(jiǎn)單的 1 秒測(cè)量,就可以獲得非常精密和準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。還可以測(cè)量大多數(shù)樣品的光學(xué)常 數(shù)和其他薄膜特性。
Film Sense FS-1™多波長(zhǎng)橢偏儀 這款功能強(qiáng)大的多波長(zhǎng)橢偏儀,售價(jià)只是單一波長(zhǎng)橢偏儀和光譜橢偏儀的中等水平。FS-1可應(yīng)用于研究實(shí)驗(yàn)室,超凈間,原位工藝腔體以及工業(yè)質(zhì)量控制等諸多領(lǐng)域。
主要特點(diǎn)
4 個(gè) LED 光源:藍(lán)色(465nm),綠色(525nm), 黃色(580nm),紅色(635nm)
橢偏儀探測(cè)器中無(wú)可移動(dòng)部件
的膜厚精密性,大多數(shù)樣品精密度優(yōu)于 0.001nm(1 秒獲取數(shù)據(jù)),對(duì)于亞單原子薄膜精密度等于0.001nm
集成計(jì)算機(jī),可實(shí)現(xiàn)對(duì)設(shè)備控制和數(shù)據(jù)分析,自帶瀏覽器界面,可兼容任何現(xiàn)代計(jì)算機(jī),筆記本或平板電腦
優(yōu)勢(shì)
壽命長(zhǎng)(長(zhǎng)達(dá)50,000小時(shí)),更換 LED 燈便宜,校準(zhǔn)時(shí)間短或無(wú)需PM程序
快速測(cè)量(10ms 內(nèi)獲得多波長(zhǎng)數(shù)據(jù))和長(zhǎng)期性能穩(wěn)定
測(cè)量精確,只有橢偏儀可以實(shí)現(xiàn)
軟件設(shè)置和維護(hù)簡(jiǎn)單
標(biāo)準(zhǔn) FS-1 配置
性能
FS-1多波長(zhǎng)橢偏儀擅長(zhǎng)測(cè)量膜厚范圍 0-1000nm 的透明單一薄膜的厚度和折射率。下表列出的是針對(duì)各種不同樣品,包括多層膜樣品,F(xiàn)S-1獲得的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量精密度和準(zhǔn)確性數(shù)據(jù)。
應(yīng)用領(lǐng)域
半導(dǎo)體行業(yè):二氧化硅和氮化物,高介電和低介電材料,非晶和多晶材料,硅薄膜,光刻膠
光學(xué)薄膜行業(yè):高和低指數(shù)薄膜,如 SiO2, TiO2, Ta2O5, MgF2 等
顯示屏行業(yè):TCO(如 ITO),非晶硅薄膜,有機(jī)薄 膜(OLED 技術(shù))
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)行業(yè):寶石,如碳膜
工藝研發(fā):原位表征薄膜沉積(速率和光學(xué)常數(shù)) VS 工藝條件,可兼容 MBE, MOCVD, ALD 和磁控濺射等設(shè)備
化學(xué)和生物:在液體細(xì)胞實(shí)驗(yàn)中探測(cè)亞單原子層材料吸附
工業(yè):在線監(jiān)測(cè)和控制膜厚
In Situ 在線測(cè)量功能
亞單原子膜厚精密度
多工藝條件下測(cè)定薄膜光學(xué)常數(shù) n&k 和沉積速率,不會(huì)破壞真空
監(jiān)測(cè)和控制多層膜結(jié)構(gòu)沉積
FS-API 界面,外置軟件控制(兼容 LabVIEW™ )
兼容大多數(shù)薄膜沉積技術(shù):磁控濺射,ALD,MBE,MOCVD,電子束蒸發(fā)等
In Situ在線測(cè)量
產(chǎn)品包括 FS-1™多波長(zhǎng)橢偏儀,帶緊湊自動(dòng)mapping樣品臺(tái),可以實(shí)現(xiàn)快速,準(zhǔn)確和可靠的薄膜均勻性測(cè)量。
特點(diǎn)和參數(shù)
4 段波長(zhǎng)的橢偏數(shù)據(jù)(465, 525, 580, 635 nm),壽命長(zhǎng)的LED光源,探測(cè)器內(nèi)無(wú)可移動(dòng)部件
可對(duì) 0-1000nm 透明薄膜進(jìn)行準(zhǔn)確的厚度測(cè)量
標(biāo)準(zhǔn)濃厚重復(fù)性 0.015 nm
集成聚焦探針,標(biāo)準(zhǔn)光斑尺寸 0.8 x 1.9 mm (其他尺寸 可選)
電動(dòng) Z 軸樣品臺(tái)自動(dòng)準(zhǔn)直
靈活掃描圖案編輯器
測(cè)量參數(shù)等值線繪制
聚焦光束選件
樣品上光束尺寸減小到 0.8 x 1.9 mm 或 0.3 x 0.7 mm
聚焦光束檢測(cè)
聚焦光束檢測(cè)系統(tǒng)包括一個(gè) FS-1 多波長(zhǎng)橢偏儀,帶光束聚焦光學(xué)器件和一個(gè)手動(dòng)位移臺(tái)。該系統(tǒng)非常適合用于手動(dòng)檢測(cè)和在圖案化半導(dǎo)體晶圓上進(jìn)行質(zhì)量控制測(cè)量。
可進(jìn)行科研測(cè)量,帶小尺寸光斑和相機(jī)成像功能
手動(dòng)位移臺(tái),可容納 4’,5’,6’晶圓
樣品上光束尺寸 0.3 x 0.7 mm
樣品上光束位置視頻圖像
FS-XY150
標(biāo)準(zhǔn)晶圓 map 時(shí)間:60s(150mm 晶圓上取 49 個(gè)點(diǎn))
結(jié)構(gòu)緊湊:600x600 mm, 16 kg
樣品臺(tái)行程(X,Y):150 x 150 mm, 精度:5 μm
FS-RT300
標(biāo)準(zhǔn)晶圓 map 時(shí)間:90s(300mm 晶圓上取 49 個(gè)點(diǎn))
結(jié)構(gòu)緊湊:400x500 mm, 22 kg
樣品臺(tái)行程:R (線性) :150 mm, 精度:12 μm
角度(旋轉(zhuǎn))360°,精度:0.1°