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更新時(shí)間：2023-02-13 11:51:00瀏覽次數(shù)：554次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 環(huán)保在線光譜范圍：350nm-850nm可選:280nm-850nmSE800是采用快速二極管陣列探測(cè)器的高性能光譜橢偏儀，在紫外/可見光范圍內(nèi)兼具快速數(shù)據(jù)采集速度和全光譜范圍分辨率
光譜范圍：350 nm - 850 nm
可選: 280 nm - 850 nm
SE 800是采用快速二極管陣列探測(cè)器的高性能光譜橢偏儀，在紫外/可見光范圍內(nèi)兼具快速數(shù)據(jù)采集速度和全光譜范圍分辨率。
光譜橢偏儀SE 800適用于復(fù)雜應(yīng)用，比如測(cè)量玻璃上的透明薄膜，發(fā)光體和半導(dǎo)體聚合物薄膜，吸收/透明基底上的多層膜，窗材料的減反射膜，的微電子應(yīng)用比如SOI，高k值和低k值材料。各向異性樣品和非均勻樣品也能夠被分析。
主要特點(diǎn)
l 步進(jìn)掃描分析器工作方式，對(duì)較低光強(qiáng)也同樣有效
l 消色差補(bǔ)償器在整個(gè)0-360度范圍內(nèi)都可極準(zhǔn)確和精確地測(cè)量出橢偏角度。能夠分析偏振因數(shù)和補(bǔ)償退偏效應(yīng)
l 起偏器跟蹤技術(shù)可以為每一種應(yīng)用都提供的測(cè)量精度
l 自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)鏡用于樣品傾斜度調(diào)節(jié)，顯微鏡用于樣品高度調(diào)節(jié)，能夠提供的樣品對(duì)準(zhǔn)精度
l 高穩(wěn)定性的操作，所有硬件操作由其內(nèi)置的微控制器分別控制，基于Windows XP系統(tǒng)的型電腦
l SpectraRay II – 功能強(qiáng)大的光譜橢偏儀軟件
主要應(yīng)用
l 測(cè)量單層膜或多層膜的厚度和折射率
l 在紫外-可見光波段測(cè)量材料的光學(xué)性質(zhì)
l 測(cè)量厚度梯度
l 測(cè)量膜表面和界面間的粗糙程度
l 確定材料成分
l 分析薄金屬膜
l 分析各向異性材料和薄膜
l CER – 結(jié)合橢偏測(cè)量和反射測(cè)量
l CET – 結(jié)合橢偏測(cè)量和透射測(cè)量
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