北京合能陽光新能源技術(shù)有限公司
詳細摘要： 原生多晶型號測試儀是一款半導體材料型號測試儀器，具有大量程測試范圍的特點，尤其適用于西門子法原生硅料生產(chǎn)企業(yè)的高阻硅料（含硅芯、檢磷棒、檢硼棒等）以及各種低阻硅...
產(chǎn)品型號：HS-PSTT所在地：北京市更新時間：2022-10-27 在線留言
詳細摘要： 多晶硅鑄錠（定向凝固）配料工藝軟件是一個用于太陽能光伏多晶硅料及多晶硅鑄錠配料的工藝計算軟件
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2022-10-27 在線留言
詳細摘要： HS-Phys-IRis晶圓紅外檢測系統(tǒng)專門用于包括硅材料等半導體晶圓及晶環(huán)生產(chǎn)過程中發(fā)現(xiàn)晶圓內(nèi)部的機械隱裂等肉眼無法觀測的內(nèi)部缺陷，其檢測直徑可達420mm。
產(chǎn)品型號：HS-Phys-IRis所在地：北京市更新時間：2022-10-27 在線留言
詳細摘要： HS-NIR-SiRod單晶硅芯長棒紅外探傷測試儀是專門用于硅芯硅棒生產(chǎn)中的硅棒硅芯內(nèi)部的的裂縫、雜質(zhì)、黑點、陰影、微晶等缺陷探傷的儀器，可大幅提高硅芯生產(chǎn)過程...
產(chǎn)品型號：HS-NIR-SiRod所在地：北京市更新時間：2022-10-27 在線留言
詳細摘要： HS-phys-SimPLe半導體晶片內(nèi)部缺陷檢測系統(tǒng)是專門用于包括單晶硅、碳化硅、藍寶石等半導體晶片及晶環(huán)生產(chǎn)過程中以的分辨率探測晶片和晶環(huán)的內(nèi)部滑移線、內(nèi)部...
產(chǎn)品型號：HS-phys-SimPLe所在地：北京市更新時間：2022-10-27 在線留言
詳細摘要： ■ 所謂“母合金"就是雜質(zhì)元素與硅的合金，常用的有硅磷和硅硼兩種，雜質(zhì)濃度是10的-2次方和10的-3次方。
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2022-08-03 在線留言
詳細摘要： 合能陽光的金屬四探頭電阻率方阻測試儀（ HS-MPRT-5）是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器.本儀...
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2022-08-03 在線留言
詳細摘要： 屬四探頭電阻率方阻測試儀(HS-MPRT4）是用來測量半導體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導電薄膜、導電橡膠方塊電阻的測量...
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2022-08-03 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品介紹: 我公司銷售的PVE300是基于Bentham公司專業(yè)的技術(shù)及25年的行業(yè)經(jīng)驗，PVE300能夠快速并準確的給出分析數(shù)據(jù)，是經(jīng)過市場檢驗的被廣泛應(yīng)用的...
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2022-08-03 在線留言
詳細摘要： 硅料磷、硼雜質(zhì)含量測試儀，其主要用途是對多晶硅料的包括磷硼含量在內(nèi)的超過75個元素進行分析。
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2022-08-03 在線留言
詳細摘要： 原生多晶電阻率測試儀(HS-POSRT)，是一款電阻率測試儀器，具有電阻率大量程及超大量程測量的特點，實現(xiàn)了電阻率從0.0001歐姆.厘米到幾萬歐姆.厘米（可擴...
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2022-08-03 在線留言
詳細摘要： 手動無接觸硅片測試儀(HS-NCS-300型)可以測量硅片厚度、總厚度變化 TTV 、彎曲度，該儀器適用于 Si ， GaAs ， InP ， Ge 等幾乎所有...
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2022-08-03 在線留言
詳細摘要： 合能陽光無接觸少子壽命測試儀(HS-MWR-SIM)，是一款功能強大的，能夠?qū)尉Ч璋?、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷單點少子壽命測試，其通過微波光電衰...
產(chǎn)品型號：HS-MWR-SIM所在地：北京市更新時間：2022-08-03 在線留言
詳細摘要： 無接觸式電阻率型號測試儀TRM-100是基于渦流（Eddy Current）測試技術(shù)，能夠?qū)枇?、硅棒、硅錠及硅片進行無接觸、無損傷的體電阻率測試。
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2022-08-03 在線留言
詳細摘要： 紅外探傷測試儀是專門用于多晶硅片生產(chǎn)中的硅塊硅棒硅片的裂縫、雜質(zhì)、黑點、陰影、微晶等缺陷探傷的儀器。
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2022-08-03 在線留言
詳細摘要： 多角度激光橢偏儀(PH-LE型)專門針對晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測量，能夠測量薄膜厚度及其光學常數(shù)，使用632.8nm波長氦氖激光器，具有*的精確度和準確度...
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2022-08-02 在線留言
詳細摘要： ■ 鎵為IIIA族元素，原子量為69.72，英文名稱為Gallium,簡稱Ga。質(zhì)軟，淡藍色光澤。熔點29.78℃。沸點2403℃。具有無毒、不揮發(fā)、不燃、不爆...
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2022-07-14 在線留言
詳細摘要： 合能陽光無接觸少子壽命掃描儀(HS-MWR-2S3)功能強大，能夠?qū)尉Ч璋?、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試，其通過微波光電衰...
產(chǎn)品型號：HS-MWR-2S3）所在地：北京市更新時間：2022-07-12 在線留言
詳細摘要： 硅片表面線痕深度測試儀(HS-SRT-301)可用于測試硅片的表面線痕深度，具有便于攜帶、觸摸屏便捷操作、液晶顯示、節(jié)能等優(yōu)點，同時內(nèi)置打印機和充電電池，所有設(shè)...
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2022-07-11 在線留言
詳細摘要： 合測試儀 - HS-PSRT電阻率型號綜合測試儀是運用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導體及太陽能...
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2022-07-11 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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