研究型硅片檢測顯微鏡ZXGP-500系列

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更新時間：2023-02-03 08:32:20瀏覽次數(shù)：182次

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上海正晞儀器設備有限公司

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產(chǎn)品簡介

研究型硅片檢測顯微鏡ZXGP-500系列

詳細介紹

一、用途

ZXGP-500系列明暗場硅片檢測顯微鏡是適用于對太陽能電池硅片的顯微觀察。本儀器配有大移動范圍的載物臺、落射照明器、長工作距離的平場消色差物鏡、大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時配有偏光裝置，及其高像素的數(shù)碼攝像頭. 本儀器配有暗場物鏡,使觀察硅片時圖像更加清晰,是檢測太陽能電池硅片的"金字塔" 的微觀形貌分布情況,及硅片的缺陷分析的理想儀器.

硅片檢測顯微鏡可以觀察到肉眼難觀測的位錯、劃痕、崩邊等;還可以對硅片的雜質(zhì)、殘留物成分分析.雜質(zhì)包括: 顆粒、有機雜質(zhì)、無機雜質(zhì)、金屬離子、硅粉粉塵等，造成磨片后的硅片易發(fā)生變花、發(fā)藍、發(fā)黑等現(xiàn)象，使磨片不合格. 是太陽能電池硅片生產(chǎn)過程中常用的檢測儀器之一。

技術標準

標準配置		大視野 WF10X(視場數(shù)Φ22mm) 無限遠長工作距離平場消色差物鏡
PL L10X/0.25 工作距離：20.2 mm
PL L60X/0.70 工作距離：3.18 mm
目鏡筒
調(diào)焦機構
轉(zhuǎn)換器
載物臺
落射照明系統(tǒng)
	配置黃、藍、綠濾色片與磨砂玻璃片
	透射照明系統(tǒng)
集光鏡中內(nèi)置視場光欄
6V30W鹵素燈、亮度可調(diào)		防霉系統(tǒng)	電腦型(ZXGP-500C)
數(shù)碼型(ZXGP-500E)
可選配件
目鏡
物鏡
CCD接頭
攝像儀
數(shù)碼相機接頭
分析軟件	二維圖像測量分析軟件