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HS-PSTT原生多晶型號測試儀
HS-PSTT原生多晶及硅芯型號測試儀是一款半導體材料型號測試儀器，具有大量程測試范圍的特點，尤其適用于西門子法原生硅料生產企業(yè)的高阻硅料（含硅芯、檢磷棒、檢硼...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2018/3/27 19:48:21 對比

硅料型號測試
無接觸體電阻率型號測試儀（TRM-100）
HS-TRM-100型無接觸式電阻率型號測試儀是基于渦流（Eddy Current）測試技術，能夠對硅料、硅棒、硅錠及硅片進行無接觸、無損傷的體電阻率測試。
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2018/1/22 5:40:50 對比

無接觸體電阻率型號測試儀
硅料綜合測試儀
本儀器是運用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導體及太陽能行業(yè)的篩選。
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2018/1/18 8:10:13 對比

電阻率型號測試
HS-POSRT大量程電阻率測試儀
HS‐POSRT原生多晶電阻率測試儀是一款電阻率測試儀器，具有電阻率大量程及超大量程測量的特點，實現了電阻率從0.0001歐姆.厘米到幾萬歐姆.厘米（可擴展）的...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2017/12/30 20:38:21 對比

大量程電阻率測試儀
金屬四探頭電阻率方阻測試儀
用來測量半導體材料(主要是硅單晶、鍺單晶、硅片)電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導電薄膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2017/12/29 22:40:56 對比

電阻率方阻測試儀
PET標準太陽能電池
PET標準太陽能電池于校準太陽模擬器的輻照。也可以使用(配套設備)來衡量太陽模擬器時間穩(wěn)定性和/光束的非均勻性。另外，還可以用來IV測量系統(tǒng)光電流強度來校準測量...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2017/12/20 7:17:32 對比

校準太陽模擬器的輻照
無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)（PV-1000）
PV-1000系列無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)為太陽能/光伏硅片及其他材料提供快速、多通道的厚度、（總厚度變化）TTV、翹曲及無接觸電阻率測量功能。并...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2017/12/16 10:14:03 對比

無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測試
金屬四探頭電阻率方阻測試儀 - HS-MPRT-5
本儀器用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器.本儀器按照半導體材料電阻率的及國家標準測試方法有關規(guī)定設計。
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2017/12/12 22:27:03 對比

電阻率方阻測試儀
硅片測厚儀（HS-WTT）
適用于量程范圍內的硅片等各種材料的厚度精確測量
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2017/12/5 8:42:52 對比

硅片厚度
無接厚度電阻率測試儀器
NCS-R80 無接觸厚度電阻率測試儀是一款用于硅片的厚度、電阻率測量的專業(yè)儀器，該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有的材料，所有的設計都符合AS...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2017/12/3 2:26:27 對比

厚度電阻率測試儀
NCS-R90無接觸方阻測試儀
NCS-R90 無接觸方塊電阻測試系統(tǒng)是一款廣泛應用于太陽能電池片制造過程中對表面方塊電阻進行無損測量的專業(yè)儀器。該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2015/6/29 8:52:11 對比

電阻率方阻測試儀
PV-2000無接觸硅片自動測試系統(tǒng)
PV-2000系列無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)為太陽能/光伏硅片及其他材料提供快速、多通道的厚度、（總厚度變化）TTV、翹曲及無接觸電阻率測量功能。并...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2014/12/4 5:13:51 對比

無接觸硅片自動測試系統(tǒng)

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