產(chǎn)品介紹:
    MWR-2S-3I是一款功能異常強(qiáng)大的無接觸少子壽命掃描測試儀，能夠?qū)尉Ч璋?、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試。一方面，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平衡載流子壽命的；另一方面，通過近紅外對(duì)硅材料的光學(xué)特性，探測缺陷。并且單晶硅棒、多晶硅塊無須進(jìn)行特殊處理。此設(shè)備是太陽能電池硅片企業(yè)、多晶鑄錠企業(yè)、拉晶企業(yè)的測量儀器。
 

產(chǎn)品特點(diǎn):
■ 系統(tǒng)功能強(qiáng)大，少子壽命及缺陷同時(shí)測量
■ 無接觸和無損傷測量
■ 自動(dòng)測量，具有傳送系統(tǒng)，可進(jìn)行連續(xù)測量
■ 快速測量，測試掃描速度達(dá)到2000mm/min
■ 測試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅片等
■ 應(yīng)用于硅棒硅塊、硅片的進(jìn)廠、出廠檢查，生產(chǎn)工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等
■ 性價(jià)比高，極大程度地降低了企業(yè)的測試成本
■ 可以在線實(shí)時(shí)對(duì)產(chǎn)品監(jiān)控

推薦工作條件:
■ 溫度：18-26℃
■ 濕度：10%~80%
■ 大氣壓：750±30毫米汞柱

技術(shù)指標(biāo):
■ 主機(jī)尺寸：63cm * 36cm *59cm
■ 測試尺寸:190mm*190mm*500mm
■ 測試掃描速度:2000mm/min
■ 電阻率范圍：>0.5Ω.cm
■ 硅棒硅塊掃描間距：≥1mm
■ 儀器測試精度：±3.5％，信號(hào)處理偏差≤2％
■ 少子壽命測試范圍:0.1μs-20ms
■ 少子檢測激光波長：975nm,測試功率范圍：50-500mw
■ 紅外波長：2300nm,測試功率范圍：50mw
■ 紅外探傷可分辨最小尺寸：0.1mm
■ 微波工作頻率：10GHz±0.5
■ 微波測試單元功率：0.01W±10%
■ 電源：～220V  50Hz    功耗＜160W
■ 主機(jī)重量：32KG

典型客戶:
德國，瑞士，美國，日本，俄羅斯及國內(nèi)河北，江西，江蘇，浙江，廣西，上海，遼寧等地太陽能硅片及電池客戶.。